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可控硅输出干扰热电偶测量

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楼主
zhxingyu|  楼主 | 2017-12-5 23:21 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
可控硅, 热电偶, 单片机, AD, 电压
可控硅输出端（AC 220V）经电阻降压反馈给单片机AD输入端测量输出电压幅度，由于需要测量此电压整个单片机测量系统的GND为热地，单片机另一AD输入端接热电偶测量，当可控硅输出就会干扰热电偶的测量，测量温度会随可控硅输出升高3～4度，怀疑是热电偶输入电路同市电共地相互干扰了，有什么好的方法解决这类干扰吗？谢谢！

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沙发
zyj9490| | 2017-12-5 23:32 | 只看该作者
是传导还是 埸耦合的，输入端要进行低通滤滤波处理或数字滤波处理，还要外面加屏BI.

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板凳
chunyang| | 2017-12-6 12:06 | 只看该作者
如果不是可控硅调相，只是起个常开、常闭开关的作用，那么可控硅根本不会带来干扰，干扰要么来自他处，要么根本就不是什么干扰，而是设计的错误。

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地板
zhxingyu|  楼主 | 2017-12-6 13:49 | 只看该作者
chunyang 发表于 2017-12-6 12:06
如果不是可控硅调相，只是起个常开、常闭开关的作用，那么可控硅根本不会带来干扰，干扰要么来自他处，要么 ...

是可控硅调相

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5楼
cjseng| | 2017-12-6 15:50 | 只看该作者
我来做的话，就再增加一个单片机，用来测量电压，用光耦隔离和主控串行通讯。

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6楼
cauhorse| | 2017-12-6 16:00 | 只看该作者
可以换用其他热电偶或使用其他种类的温度探头，比如铂热电阻测温，比对一下，看看能不能复现“温度变化”的问题；
如果换了测温方法，现象不再，可以检查一下热电偶探头的布置方式，如电偶控头外壳是金属铠装，看看里装的电偶双金属结点是否和外壳搭上；
如果探头外壳接地，则检查一下热电偶调理电路或模块的供电方式，其电源地是否可靠地与单片机系统的电源地相连。

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7楼
chunyang| | 2017-12-8 11:27 | 只看该作者
zhxingyu 发表于 2017-12-6 13:49
是可控硅调相

可控硅调相的干扰很大，如果是大惯性的热控制，用过零触发可控周期法来实现，这样就没有调相干扰了，否则要从整体设计上下功夫，不是加个什么滤波器就能解决的。

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8楼
资深技术| | 2017-12-8 11:31 | 只看该作者
改设计吧

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9楼
yuanzhoulu| | 2017-12-9 20:53 | 只看该作者
是不是布线引起的？热电偶电阻很小，好像干扰没那么严重，但是热电偶输出电压也很小，没具体搞过，只是这么想。把负载改成小功率灯泡看看测温有没有改善，如果有改善就是布线问题，电流引起的干扰。如果无改善，那就是电压感应引起的干扰。

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10楼
盖茨比| | 2017-12-23 21:22 | 只看该作者
请问有什么单片机的地可以是热地？

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11楼
盖茨比| | 2017-12-23 21:24 | 只看该作者
请问什么型号的单片机的地可以是热地

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12楼
vhdlcpld| | 2017-12-23 22:20 | 只看该作者
本帖最后由 vhdlcpld 于 2017-12-23 22:35 编辑

也可以弄个电压互感器隔离一下，电压互感器在电能表里用的比较多。

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13楼
zhaohe2001| | 2017-12-25 16:11 | 只看该作者
如果可控硅也是由单片机控制的话，在AD采样要避开开关时刻，最好在可控硅两次动作的中间采样，可避免干扰

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