本帖最后由 qq543592229 于 2018-1-22 11:39 编辑
原理图如下图。锂电池组保护板上多颗并联N-MOS,选型的单颗MOS 150V 100A 0.004R,5颗MOS并联内阻0.0008R。测试中用6A电流放电测试并联的5颗MOS没有问题,测得压降4.5mV。当用26A电流的放电的时候 ,MOS就被烧毁,压降有1.8V,温度升温快,有150摄氏度+。 测试了几次都被烧坏,不知道是什么原因,PCB上是加了铜条的,电流过50A都没有问题。MOS驱动电路
矩阵
IO给控制信号,当IO低或者悬空,通过DSG就是高电平,当IO为高时,DSG是低电平。DSG控制并联放电MOS,CHG充电控制 原理和放电一样。
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