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[技术讨论]

关于MCU Flash老化测试

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forget121|  楼主 | 2018-1-26 16:28 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
flash, MCU, 老化测试
大家做产品会做MCU老化测试吗？
如果做，怎么做？大家给些建议？多谢。

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沙发
雪山飞狐D| | 2018-1-27 12:14 | 只看该作者
反复存储数据的地方用24 I2C系列把，可以写100W次，MCU内部的flash 大概只有1W-10W次

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板凳
chunyang| | 2018-1-27 18:14 | 只看该作者
器件老化和FLASH的擦写寿命测试是完全不同的两码事。

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地板
forget121|  楼主 | 2018-1-28 16:07 | 只看该作者
chunyang 发表于 2018-1-27 18:14
器件老化和FLASH的擦写寿命测试是完全不同的两码事。

春阳大哥，帮忙解释下，我看客户在用WIFI芯片会做老化测试，里面已经内置了Flash等，只有一颗单芯片.
不是很了解他们的做法。

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5楼
forget121|  楼主 | 2018-1-28 16:08 | 只看该作者
雪山飞狐D 发表于 2018-1-27 12:14
反复存储数据的地方用24 I2C系列把，可以写100W次，MCU内部的flash 大概只有1W-10W次 ...

不是指外部的eeprom，芯片的老化测试。
我的理解是指内部的Flash，可能不对。

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6楼
chunyang| | 2018-1-28 22:52 | 只看该作者
forget121 发表于 2018-1-28 16:07
春阳大哥，帮忙解释下，我看客户在用WIFI芯片会做老化测试，里面已经内置了Flash等，只有一颗单芯片.
不 ...

那是针对WIFI芯片，而不是FLASH。FLASH芯片的老化跟其它器件一样，并不涉及反复擦写。

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7楼
雪山飞狐D| | 2018-1-28 23:53 | 只看该作者
forget121 发表于 2018-1-28 16:07
春阳大哥，帮忙解释下，我看客户在用WIFI芯片会做老化测试，里面已经内置了Flash等，只有一颗单芯片.
不 ...

  wifi 的话应该是天线和PCB部分还有一些电感电容等阻抗器件，连续通电工作使其达到稳定状态或者测试出异常的器件，一般为连续全速工作一周左右的时间，一周以后重新测试信号是否完好（有一些确实会损坏或者信号出现偏差）

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8楼
forget121|  楼主 | 2018-1-29 08:14 | 只看该作者
雪山飞狐D 发表于 2018-1-28 23:53
wifi 的话应该是天线和PCB部分还有一些电感电容等阻抗器件，连续通电工作使其达到稳定状态或者测试出异 ...

了解，谢谢你的解析，学习了。

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