[技术问答] 关于N76E003 的IO口开漏问题。

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 楼主| mengqi54321 发表于 2018-3-8 14:32 | 显示全部楼层 |阅读模式
最近发现IO开漏接的上拉会被IO又拉低。怎么会这么惨。是这个芯片本身的问题吗?


现象描述: MCU电压3V,VCC电压4V。 VCC通过4.7K电阻接入IO口,IO口设置开漏。 输出1 (非0即1),此时IO口电压3.45V左右, 输出0,电压0V正常。    开漏端口不彻底?造成的影响是,控制PMOS时,有0.5V压差,造成无法关断。 请指教。
dongnanxibei 发表于 2018-3-8 14:40 | 显示全部楼层
开漏和推挽区别在于: 开漏:输出端相当于三极管的集电极,要得到高电平状态需要上拉电阻才行。 适合于做电流型的驱动,其吸收电流的能力相对强(一般20ma
dongnanxibei 发表于 2018-3-8 14:41 | 显示全部楼层
推挽输出:可以输出高,低电平,连接数字器件。
开漏电路就是指以MOS FET的漏极为输出的电路。一般的用法是会在漏极外部的电路添加上拉电阻。完整的开漏电路应该由开漏器件和开漏上拉电阻组成。
推挽结构一般是指两个三极管分别受两互补信号的控制,总是在一个三极管导通的时候另一个截止
冷画 发表于 2018-3-8 14:51 | 显示全部楼层
HC89S003F4 支持外部晶振    需要的联系我    QQ1449251178
功能对比.png
yjgna 发表于 2018-3-8 17:04 | 显示全部楼层
MCU控制正常啊,MCU IO口输出高电平的电压就是VDD。 搞不明白为什么MCU 供电电压VDD 不用4V
huangcunxiake 发表于 2018-3-8 22:35 | 显示全部楼层
电路问题吧,估计不应该这么用。
dongnanxibei 发表于 2018-3-9 08:49 | 显示全部楼层
开漏模式开漏输出配置关闭所有内部上拉,当端口锁定为逻辑0时,仅打开驱动端口的下拉晶体管。当端口锁存为逻辑1时,它就和输入模式一样。通常用于I2C输出线上,开漏引脚需要加一个外部上拉电阻,典型连一个电阻到VDD。 用户需要注意的是,开漏模式输出逻辑1的时候,应该由外部设备或电阻提供一个确定的电平。悬浮的引脚在掉电状态下会引起漏电。
QQ截图20180309084932.png
zs870723 发表于 2018-3-9 12:58 | 显示全部楼层
试试把IO跟后面的电路割开看看,保留外部上拉,确定是不是芯片IO造成的
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