SWD简介

只看该作者 · 2018-3-18 16:37

ARM Cortex-M0 集成了调试的功能。支持串行线调试功
能。ARMCortex-M0 被配置为支持多达4 个断点和2 个观察
点。
串行线调试技术可作为CoreSight 调试访问端口的一部分，它提供了2 针调试端口，这是JTAG 的低针数和高性能替代产品。
串行线调试(SWD) 为严格限制针数的包装提供一个调试端口，通常用于小包装微控制器，但也用于
复杂ASIC 微控制器，此时，限制针数至关重要，这可能是设备成本的控制因素。
SWD 将5 针JTAG 端口替换为时钟+ 单个双向数据针，以提供所有常规JTAG 调试和测试功能以
及实时系统内存访问，而无需停止微控制器或需要任何目标驻留代码。SWD 使用ARM 标准双向线协议（在
ARM 调试接口第5 版中定义），以标准方式与调试器和目标系统之间高效地传输数据。作为基于ARM 微
控制器的设备的标准接口，软件开发人员可以使用ARM 和第三方工具供应商提供的各种可互操作的工具。

只看该作者 · 2018-3-18 16:37

SWD 提供了从JTAG 的轻松且无风险的迁移，因为两个信号SWDIO 和SWCLK 重叠在TMS 和
TCK 插针上，从而使双模式设备能够提供其他JTAG 信号。在SWD 模式下，可以将这些额外的JTAG 针
切换到其他用途。SWD 与所有ARM 微控制器以及使用JTAG 进行调试的任何微控制器兼容，它可以访问
Cortex 微控制器和CoreSight 调试基础结构中的调试寄存器。目前，批量生产设备中实现了串行线技
术，例如，NuMicro M051 系列微控制器。
ARM 多点SWD 技术允许通过单个连接同时访问任意数量的设备，以将SWD 优点应用于基于多微控
制器的复杂SoC，从而为复杂设备开发人员提供了低功耗2 针调试和跟踪解决方案。这对连接受限的产
品特别重要，例如，手机，其中多晶片和多芯片是很常见的。
多点SWD 完全向后兼容，从而保留现有的单一点到点主机设备连接，并允许在未选择设备时将其完
全关闭以降低功耗。

只看该作者 · 2018-3-18 16:38

SWD 串行调试具有以下特性：

只看该作者 · 2018-3-18 16:39

SWDCLK、SWDIO 与JTAG 引脚TCK、TMS 引脚共用，当使用ULINK 进行调
试或下载时，只需其引出
--------- TRST、TCK、TMS、GND 引脚

只看该作者 · 2018-3-18 16:39

Nu-Link 同样可以理解为JTAG 接口的精简版，提供了
--------- TRST、TCK、TMS、GND 引脚，为了
实现SWD 串行调试，NuMicro M051 系列微控制器可供调试的引脚为P3.0/--------- TRST、P4.6/SWDCLK、
P4.7/SWDIO。
还有要强调的是，用户必须知道调试期间的某些限制。最关键的一点就是：由于ARM Cortex-M0 集
成特性的限制，NuMicro M051 系列ARM 不能通过常规方法从深度睡眠模式中唤醒。建议在调试期间不
要使用这些模式。
另一个问题是，调试模式改变了ARM Cortex-M0 CPU 内部的低功耗工作模式，这波及到了整个系
统。这些差别意味着在调试期间不应对功耗进行测量，在测试期间测量的功耗值会比在普通操作期间测量
的值高。
在调试阶段中，只要CPU 停止，系统节拍定时器就会自动停止。其它外设不受影响。