求maychang老师关于磁芯饱和导致MOS管损坏的原因

发表于 2011-7-21 20:24

磁芯饱和导致MOS管损坏，是浪涌电压的原因，还是浪涌的电流的缘故呢?maychang哥哥帮我具体分析下啊！

发表于 2011-7-21 20:30

通常是由于MOS管电流过大。

发表于 2011-7-21 20:47

maychang老师啥时候有空，帮我好好分析下，结论我先记下了，呵呵

发表于 2011-7-22 12:33

“帮我好好分析下”
在论坛里面分析，那是不可能的。而且所谓“分析”，我敲一堆字贴上来，并不会比教材上说得更清楚。
最好是看书，例如技术交流版面，老tyw发的“新年大书包”里面《开关电源的原理与设计》、《图灵开关电源手册》，尤其是《图灵电路基础(第3版) 》。
另外，赵修科老师《开关电源中磁性元器件》也应该仔细看看。

发表于 2011-7-22 15:40

恩，大哥的话我都记下了。好好看资料去了，有问题再来请教您。

发表于 2011-7-22 22:15

磁芯上绕上线圈就是一电感了，电感的电流不能突变，当给这个电感加上一个电压回路时其上的电流是缓慢上升的，在开关电源里面这个电流还是流过开关管的，并且它的峰值是可控的（通过开关管S脚的检测电阻感知电流大小控制占空比），当磁芯饱和时这磁芯上绕的线圈就失去了电感特性成了阻值极低的一段导线，此时相当于把一个高电压和大电流一下子加到了开关管上，此时开关管承受的功率P=I*V 相当大，立即烧掉了。

发表于 2011-7-23 07:57

恩，有点理解了，谢谢6楼

发表于 2011-7-23 09:41

6楼所说，“当磁芯饱和时这磁芯上绕的线圈就失去了电感特性成了阻值极低的一段导线”有些过分。
磁心饱和，是指磁导率降低。饱和并非开关一般，非闭合即断开，而是逐渐发生的，磁心的磁导率是随磁通密度的增加从最大值逐步降低到空气的磁导率。因此电感的电感量也是随磁通密度的增加逐步降低，但再低也不会低到比同一尺寸和匝数空心绕组的电感量还低，不是“一段导线”，更不能说“失去了电感特性”。
实际上，电感的电感量还没有降低到同一尺寸和匝数空心绕组的电感量，功率管已经损坏了。因为功率管的电流和功率都不会设计得有十几倍的余量，至多几倍。

发表于 2011-7-23 09:48

恩，非常感谢maychang大哥的深刻讲解，大家周六加班开心，呵呵

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