N76E003 ADC连续采样不准问题

只看该作者 · 2018-4-17 09:21

本帖最后由 kamp2000 于 2018-4-17 09:24 编辑

测试条件：
1，线性电源12.6V，分压电阻20K：2K
2，AMS1117降压到5V供电 N76E003 ；
3，ADC_BandGap读出来是比较稳定的。
4，ADC单通道在分压电阻处连续采样25秒求线性电源输入值

串口显示连续采样结果：（从上到下是连续的）
0936 --7次
0933--17次
0931--236次
0928--331次
0925--41次
0920--300次
0914--直到结束

用五位半台表高速挡测试，分压电阻处的电压是比较稳定的，但采集结果成下降趋势，但在区间又比较稳定，只有0931和0928比较符合结果，且中间没有跳变。
CKDIV = 0x02; ADC采样时转到四分频下又测试了，结果差不多，收尾值都是最小值0914，误差较大。

请教下各位朋友，看问题可能是哪些方面?

只看该作者 · 2018-4-17 09:25

给个我做的函数你，前面先转换空转换4次才准，不知道什么原因，我也是想到以前用HOLTEK 单片机有这个问题就这样的
uint16_t adc_convert ( uint8_t ch)  // analog channel ,  0--8, 8 channel is bandgap
{
uint16_t adc_temp;
uint16_t adc_sum;
uint8_t i;

adc_sum = 0;
ADCCON0 &= 0xF0;
ADCCON0 |= ch;

for(i = 0; i < 4; i++)
{
ADCF = 0;
ADCS = 1;
while(ADCF == 0);
}

//---------------------------------------
for(i = 0;  i < 8;i++)
   {
adc_temp = 0;

ADCS = 1;
while(ADCF == 0);

adc_temp = ADCRH;
adc_temp <<= 4;
adc_temp |= ( ADCRL & 0x0F);

   adc_sum += adc_temp;
   }
adc_sum >>= 3; // /8
return adc_sum;
}

只看该作者 · 2018-4-17 09:48

时钟降到8M或以下ADC转换正常。

只看该作者 · 2018-4-17 10:16

wm20031015 发表于 2018-4-17 09:48
时钟降到8M或以下ADC转换正常。

已经4分频了，问题一样。如果短期几次采样，还没有问题，如果持续采样，就会出问题了

只看该作者 · 2018-4-17 10:17

pmw_56 发表于 2018-4-17 09:25
给个我做的函数你，前面先转换空转换4次才准，不知道什么原因，我也是想到以前用HOLTEK 单片机有这个问题就 ...

已经按手册丢前三笔了，问题是连续采样，数值逐渐下降

只看该作者 · 2018-4-17 10:22

本帖最后由 pmw_56 于 2018-4-17 10:23 编辑

kamp2000 发表于 2018-4-17 10:17
已经按手册丢前三笔了，问题是连续采样，数值逐渐下降

为什么我持续采用带隙很稳定的？ printf 打印速率快跟慢数据有些变化，但是稳定的

只看该作者 · 2018-4-17 11:43

pmw_56 发表于 2018-4-17 10:22
为什么我持续采用带隙很稳定的？ printf 打印速率快跟慢数据有些变化，但是稳定的 ...

使用带隙的时候切换过通道了，并非所谓的连续采样吧

只看该作者 · 2018-4-17 12:01

本帖最后由 kamp2000 于 2018-4-17 12:07 编辑

离散的星发表于 2018-4-17 11:43
使用带隙的时候切换过通道了，并非所谓的连续采样吧

开机求一次VDD（值正常，在误差范围内），然后切换到通道4开始连续采样25秒

      READ_BANDGAP();
      Enable_ADC_BandGap;
   Get_VDD_Voltage(); // 求VDD电压
#ifdef UART
      printf ("VDD_Voltage = %1.3f\r\n",VDD_Voltage);
#endif
      delay1ms(100);

Enable_ADC_AIN4;
CKDIV = 0x02;
      count = 0;
      ADC_Bypass();
      ADC_Bypass();  //丢弃
   do{
            clr_ADCF;
            set_ADCS;                                                                      // ADC start trig signal
            while(ADCF == 0);
            temp_high = (ADCRH<<4);
            temp_value  = temp_high + ADCRL;
#ifdef UART
               printf ("%04d\r\n",temp_value); //这里串口助手波特率降4倍，9600接收
#endif
      }while(count<2500);
CKDIV = 0x00;

如果不用串口实时输出，可以在do while里面求得最大最小值，相差较大，按12bit 4096分格子，有30多个格子的差异，因为是分压电阻值，换算成输入电压值，有0.4-0.5V的电压差异，明显有问题

只看该作者 · 2018-4-17 17:06

我用定时器中断采样，没问题。

1万 · 2018-4-17 19:17

不要用电阻分压就去测，想准再加个跟随器。

只看该作者 · 2018-4-17 19:24

没遇到，挺准的。

只看该作者 · 2018-4-19 00:37

dongnanxibei 发表于 2018-4-17 19:17
不要用电阻分压就去测，想准再加个跟随器。

这是SAR型的ADC，输入阻抗应该不小吧，还需要一级跟随吗？

只看该作者 · 2018-4-21 18:16

pmw_56 发表于 2018-4-17 09:25
给个我做的函数你，前面先转换空转换4次才准，不知道什么原因，我也是想到以前用HOLTEK 单片机有这个问题就 ...

没有看到关闭数字输入缓冲区，除了测带隙不准，其它通道一次测准。

只看该作者 · 2018-4-22 14:35

红果电子发表于 2018-4-21 18:16
没有看到关闭数字输入缓冲区，除了测带隙不准，其它通道一次测准。

有个什么AINDIDS什么寄存器是关闭数字输入的寄存器你看下是不是，我忘了

只看该作者 · 2018-4-27 14:21

Enable_ADC_AIN4; 是根据官方那个库里面带的宏 ADCCON0&=0xF0;ADCCON0|=0x04;P05_Input_Mode;AINDIDS=0x00;AINDIDS|=SET_BIT4;ADCCON1|=SET_BIT0

只看该作者 · 2018-4-27 14:39

从你的结果来看，明显是电阻的温飘引起的，20K的电阻随着开机时间一直在变大，你连续长时间开机估计数值就会稳定不变了，或者改用低温飘电阻试一下，我在使用N76E003的ADC，除了Vref不可以改外，没发现什么缺点。

只看该作者 · 2018-4-27 14:47

还有一点，因为76E003的VREF是VDD，因此，你的LD1117稳压本身的温飘也会产生这样的结果。除非你校正了VDD。

只看该作者 · 2018-12-28 14:57

楼主，ADC现在怎么样了？希望能解答！
我的问题也卡在ADC 这里。我采集所有通道。方法：通道1采集丢弃——100ms后，采集AIN1丢弃，——再100ms采集AIN1，保存——100ms后，采集AIN2丢弃，——100ms后采集AIN2丢弃——再100ms后采集AIN2 保存；
（每次采样间隔100ms,前两次丢弃，包括带隙电压采集。方便实时计算外部电压）。
问题：复位后准确，过段时间不准；从新复位又正常。。。

只看该作者 · 2018-12-28 14:57

楼主，ADC现在怎么样了？希望能解答！
我的问题也卡在ADC 这里。我采集所有通道。方法：通道1采集丢弃——100ms后，采集AIN1丢弃，——再100ms采集AIN1，保存——100ms后，采集AIN2丢弃，——100ms后采集AIN2丢弃——再100ms后采集AIN2 保存；
（每次采样间隔100ms,前两次丢弃，包括带隙电压采集。方便实时计算外部电压）。
问题：复位后准确，过段时间不准；从新复位又正常。。。

只看该作者 · 2018-12-28 14:57

楼主，ADC现在怎么样了？希望能解答！
我的问题也卡在ADC 这里。我采集所有通道。方法：通道1采集丢弃——100ms后，采集AIN1丢弃，——再100ms采集AIN1，保存——100ms后，采集AIN2丢弃，——100ms后采集AIN2丢弃——再100ms后采集AIN2 保存；
（每次采样间隔100ms,前两次丢弃，包括带隙电压采集。方便实时计算外部电压）。
问题：复位后准确，过段时间不准；从新复位又正常。。。

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