本帖最后由 赛元MCU1 于 2018-5-18 22:44 编辑
赛元目前的触控芯片可以过最高标准CS 10V动态，CS 3V动态10V静态是标配。驻入的电压越高，干扰越大，且覆盖的频率很广在150KHz~230M，市面上能过CS 10V动态的触控MCU可选择是非常非常少的。
CS静态测试：产品在正常工作状态下，在没人操作产品情况下，射频电流注入电缆或信号线中，产品不能出现功能异常，触控按键不能出现误动作，芯片不能复位和死机等异常现象。
CS动态测试：产品在正常工作状态下，在有人操作产品情况下，射频电流注入电缆或信号线中，产品不能出现功能异常，触控按键能如平常一样能正常操作，不能出现按键按不动或误动作，芯片不能复位和死机等异常现象。动态测试比静态测试是更加难通过的。
CS介绍： 全称：射频场感应的传导骚扰抗扰度（CS） -- Immunityto Conducted Disturbances, Induced by Radio-Frequency Fields 作用：检验设备对来自射频场耦合到线缆上的干扰的抵抗能力。 干扰来源：当空间的电磁波的波长和设备线缆的长度可以比拟时，电磁波将会耦合在此段线缆上并产生感应电压/电流，沿着该电缆流进设备内部，从而对设备的正常工作产生干扰，上述的设备线缆包含电源线和信号线。 测试范围：正常情况下0.15-80MHz，可将上限频率扩展到230MHz。 测试方法：使用射频信号发生器通过CDN或电流注入钳等设备，将射频电流注入到电缆或信号线中，以此模拟来自环境射频发射机的干扰。 测试场地：屏蔽室 严酷度等级： Ø 1类：低电磁辐射环境 Ø 2类：中等电磁辐射环境。 Ø 3类：严酷电磁辐射环境。 Ø ×类：×是由协商或产品规范和产品标准规定的开放等级。
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