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初级技术员
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2018-8-22 23:11 上传
使用特权
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1万
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版主
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9037
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技术总监
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84
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中级技术员
gx_huang 发表于 2018-8-23 07:47 4.7nF电容似乎大了一些,如果驱动能力足够,问题也不大。 大部分是过流烧坏的。 也有可能是过压击穿(比如 ...
saganick 发表于 2018-8-23 08:21 这是量产阶段的,烧的这几台也都是客户使用一段时间后发生的。能说说驱动能力和那颗电容的关系么? 我不 ...
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得看电流
@xch :主要是产品是在客户手中发生MOS烧坏的,总的市场不良率在0.4%左右。现在板子拿到手上了,换了一组MOS管后,很难复现到现象...现在也没有什么验证方向...
@saganick :渡越时间拉长。可能无死区,造成FET烧毁
@xch :是说这两颗电容会影响MOS的关断时间吗?还是其他什么影响呢?
你先空载测 Q26的空载电流。安全起见,串联个10ohm电阻。测电阻上的电压。 如果大于10uA。 驱动有问题。 C67,C69 拿掉