求助：STC单片机损坏分析。

只看该作者 · 2018-9-28 13:25

芯片STC15F2K16S2，同一电源、同一应用场合28个控制板，485通信组成一个系统。本月初出现有5块电路板损坏。现象：上电不运行，再写程序也写不进去，外围芯片均正常，换MCU写入程序后正常。另外还有几块板子保存在EEPROM中的参数被修改，重新输入参数后正常。
分析：同一电源下多个单片机同时损坏，估计供电电源有问题。（现场发现有一相电对底板有打火痕迹，底板熏黑，电线有毛刺且头部被烧成圆球状）。
向STC求助无果，特来二姨家向各位前辈、坛友求助。

只看该作者 · 2018-9-28 13:32

本帖最后由青青原上小草于 2018-9-28 14:13 编辑

初步估计是I/O损坏了

STC客服 2018/9/10 9:04:08
你可以先测下这个值

2018/9/10 9:09:50
青青原上草 2018/9/10 9:09:50
好

2018/9/12 9:04:37
青青原上草 2018/9/12 9:04:37
怎样判断I/O损坏？

2018/9/12 9:07:25
STC客服 2018/9/12 9:07:25
测I/O口万用表打到欧姆档 1）正级接I/O口负极接GND 测数据 2）正级接VCC 负极接I/O口测量数值在500~700多 I/O口正常其他则损坏
建议：请客户检查电路中通过排线、连接线等等连接到外部电路的IO是否有适当保护，电源是否有抑制干扰脉冲措施。如果通过排线连接，或者链接的器件有负电压或正电压高于单片机的电压，则这些IO都要串联300~1K电阻来做保护。

STC客服 2018/9/12 9:07:43
万能表测试

只看该作者 · 2018-9-28 13:37

本帖最后由青青原上小草于 2018-9-28 14:16 编辑

全新芯片
STC15F2K16S2-LQFP32                      P0.0       P2.7       P2.6       P2.5       P2.4       P2.3       P2.2       P3.1       P3.0
      VCC
对IO                         红笔接VCC       9.75       9.76       9.79       9.80       9.77       9.76       9.77       9.76       9.77
                              黑笔接VCC       5.72       5.73       5.68       5.74       5.75       5.75       5.67       5.79       5.79
      GND
对IO                      红笔接GND       2.071       2.066       2.066       2.065       2.059       2.056       2.061       2.053       2.054
                              黑笔接GND       19.87       19.72       19.79       19.88       19.55       19.81       19.53       19.93       19.98
      说明：万用表优利德UT139B，电阻单位：MΩ

损坏芯片
STC15F2K16S2-LQFP32                      P0.0       P2.7       P2.6       P2.5       P2.4       P2.3       P2.2       P3.1       P3.0
      VCC
对IO                         红笔接VCC       8.52       8.46       8.47       8.49       8.47       8.49       8.48       8.53       8.54
                              黑笔接VCC       17.17       17.14       17.11       17.16       17.19       17.24       17.04       16.91       16.89
      GND
对IO                         红笔接GND       2.018       1.989       1.992       2.000       1.992       2.000       2.000       2.020       2.024
                              黑笔接GND       17.09       17.07       17.04       17.08       17.11       17.16       16.96       16.83       16.81
      说明：万用表优利德UT139B，电阻单位：MΩ

2万 · 2018-9-28 15:26

STC FAE和你一样不懂。
测量数字电路的I/O口，首先要用二极管档来测量，正常对地对电源有一个二极管效应的。
二极管档，测试结果是电压，一般在0.6V上下，和万用表的型号有关。

只看该作者 · 2018-9-29 15:31

给的信息太少无法分析至少给出原理图和PCB 和使用环境

只看该作者 · 2018-9-30 11:40

这种芯片本身如果是电源系统出了问题，后级保护不是很到位，坏的几率会比较大，但是，你光测试IO口的电阻，是不是有点问题啊，FAE是不是认为是由于内部击穿，造成短路，才会出现这种情况啊，这就有点问题了，地板说的也是有道理，你换几块表试试，这个测试是应该做的更充分一些，载板的情况应该测试一下，

只看该作者 · 2018-9-30 21:15

感谢各位的关注。

只看该作者 · 2018-9-30 21:27

本帖最后由青青原上小草于 2018-9-30 22:07 编辑

今天晚上又测试了一下，用二极管档测了一下，新片、坏片正反两个方向导通电压一样，发现不了问题。又重测了一下静态电阻，差别也不大。会不会芯片就没有发生物理损坏，只是程序被干扰冲掉了？根据干扰的严重程度有的存放于EEPROM中的参数被修改，有的程序完全丢了，包括芯片中驻留的引导程序也没有了，所以就写不进去了。不知道怀疑是否正确，怎样才能验证呢？