这个问题即简单又复杂。
谢谢大家！
复杂的就是：晶振的厂家，愿不愿意，公开他们的“晶振”频率的测试电路。
如果测试电路，就是那个MCU的常用电容，那么厂家的所谓“负载电容”测试结果是多少，你们的MCU的晶振的“2个电容”就是用多大的“负载电容”。
简单的就是：如果厂家不公开“晶振”的测试电路，那么其他人，也没有资格去进行“猜测式样”的所谓“计算”。
总的来说，MCU的晶振电路，属于电容3点式的振荡，其中的晶振，本质上为一个电感。
晶振，无论串联振荡还是并列谐振，震荡频率近乎相等。
无论什么形式的震荡，如果晶振+2个电容，不能等效为一个电阻，那么震荡不可能存在。
考虑到电源电压的限制，即使，这个晶振在衰减震荡，相位裕量大于0，也依然可以震荡，这就是不同负载电容可以有不同的震荡频率的原因。
总之，晶振的问题，教科书及其受害者们，不可能懂，然而，会用即可，既：只要在你们的项目中，这个晶振以其标称频率震荡了，而且没有出故障，那么对于你们来说，就可以认为这个晶振工作正常。
只要不出现问题，那么没有人，会出研究其工作原理。
这是事实求实的，不信，你们就问问你们自己，是不是这样。
教科书及其受害者们，不懂装懂的说法，并没有任何理论和实践证据，因为，他们连个电路图都不给。
没电路图，你说个P呀！
再次感谢大家！
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