ADC12 双通道采样两者相互影响

只看该作者 · 2018-10-24 21:10

这几天一直再搞ADC12 和 DAC0832，昨晚测试的时候发现个挺严重的问题，ADC12双通道采样相互影响
我采样的是定时钟中断双通道多次采样，程序如下，
我用的是买的开发板，开始我以为是采样的两个通道相互影响可能是硬件的问题，于是我使用通道0 和通道3 采样，结果
采样还是会受影响，数据如下，当通道0采样值由3750变到0时，另一路采样输出电压从2.32变到2.10V（我两路采样结果用数码管显示，一路经过ADC转化成电压，一路直接显示结果寄存器值）

大家有没有类似的情况，望指教！！！

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//       ADC初始化程序，用于配置ADC相关寄存器
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void ADC_Init()
{
  P6SEL|=0x03;                                  //选择ADC通道，设置对应IO口的功能模式
  ADC12CTL0|= ADC12ON + MSC + SHT0_2 + REF2_5V + REFON; //打开ADC；多路转换打开适合序列或重复；
                                                   //采样保持时间，16个CLK；ADC电源控制开，内部基准2.5V
  ADC12CTL1|= SHP + CONSEQ_3 + ADC12SSEL1 + ADC12SSEL0; //采样保持脉冲模式选择；多通道重复采样；SMCLK做时钟源；
  ADC12MCTL0= SREF0 + INCH_0;                   //参考电压源控制位及通道选择

  ADC12MCTL0=INCH_0;
  ADC12MCTL1=INCH_1+EOS;
  ADC12CTL0|= ENC;                               //使能转换器
}

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//       ADC中断服务程序
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#pragma vector=TIMERA0_VECTOR
__interrupt void Timer_A(void)
{

  uchar j;
  uint result[10];

  uint result1[10];

  result[count]=ADC12MEM0;             //读取ADC转换值，存入暂存区

  result1[count]=ADC12MEM1;

  count++;

ADC12CTL0 |= ADC12SC;
_NOP() ;
while(count>8)
  {
count=0;
for(j=0;j<8;j++)
{
   TEMP+=result[j];                   //求和，10次转换的结果相加
   TEMP1+=result1[j];
}
TEMP=TEMP>>3;                      //求平均值
TEMP1=TEMP>>3;
Data_do(TEMP);                      //处理ADC值，用于显示
Data_do1(TEMP1);
for(j=0;j<50;j++)
{
   Display();                         //显示ADC的数据
}

  }
}

void TIMERA_Init(void)                                  //UP模式计数，计数周期为CCR0+1
{
  TACTL |= TASSEL1 + TACLR + ID0 + ID1 + MC_1 ;    //SMCLK做时钟源，8分频，增加计数模式，开中断 + TAIE
  TACCR0 = 999;                                        //CCR0=999，1ms中断一次
  CCTL0 = CCIE;
}