润丰源电子介绍：ESD对电子工业的危害
一、ESD对电子设备的危害
在电子器件生产过程中，静电放电可以改变半导体器件的电性能造成器件的降级或损坏。静电放电可以使IC(集成电路)芯片介质击穿，芯线熔断漏电流增大、加速老化电性能参数改变等等有人把ESD造成的IC器件击穿分成两类，一类称为硬击穿，即直接把器件的某一部分击穿使其完全失效;另一类称为软击穿，即静电放电并未使电子器件完全击穿，但对其焊点或P-N结连接线造成了损伤，这种损伤具有潜在和缓慢失效性但是，这种情况危害更大，因为，一旦软击穿的器件装入整机或分系统、系统，也许一周、也许一月、也许半年，这种软击穿的影响就会暴露，先是性能不稳继而失效，从而使整个系统瘫痪。据有关资料统计表明，潜在性缓慢失效占电子器件静电放电失效总数的90%，因此其危害极大。ESD对电子器件侵害方式.
二、ESD对电子器件侵害方式主要有三种:
①静电源直接对电子器件放电;②带电器件对其他导体的静电放电;③电场感应放电。
1.静电源直接对电子器件放电
ESD事件常常发生在带电导体(包括人体)对敏感电子器件的放电过程中。一般的静电危害是因人体或带电导体直接对敏感电子器件放电造成的。
2.带电器件对其他导体的静电放电
当静电放电敏感器件在操作过程中或者与包装材料、机器表面接触后，就会积累静电荷。当器件在包装盒移动或振动时就会发生静电放电。这种放电情况，涉及的电容和能量不同于人体对敏感电子器件的放电情况。在某些情况下，带电器件比带电人体所造成的危害更大。
3.电场感应放电
感应场可以直接或间接对电子器件造成危害，因为任何带电体周围都存在静电场。如果敏感电子器件、金属零部件、人体等进入静电场范围就会因为感应而带电，成为潜在的ESD危害源。
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