CDM 简称 Charged Device model：
CDM 充电模式测试： 是指半导体器件 or Panle 在自身带电放电时把自己击伤，造成器件的自身的损伤，是集成电路及半导体研究方面很长重视的一个ESD问题，
CDM 测试？
既然在工艺生产与制造中，会有CDM问题的出现，那么研发和制造时，就要模拟CDM测试，以便提高产品的抗CDM的能力。今天在这里简单的介绍一下， CDM测试中采用Legacy CDM Discharge Head 技术 ,满足当前ESDA/JEDEC standard JS-002-2014标准；
CDM 测试时，如何确认定放电的pin 就是我们要评估的那个，而不是周围其他pin的放电；我们公司会提供一整套的测试方案，其中Legacy CDM Discharge Head能实现这种测试 ， 只有当head 与相应pin接触后才能才能进行放电， 从而能规避其他pin的放电干扰，这种技术尤其在微小型pin 的测试环境里； 现在市场上CDM测试 大部分采用时 第一次接触放电（Contact First CDM Discharge Head），这种就是靠近pin 就放电，会有出现是不需要测试的另一个pin 放电， 所以采用我们的 Legacy CDM discharge head 是最有效的。
各位若希望就CDM的测试和技术，想进一步交流的， 请Email ： Billion.xiao@outlook.com |
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