芯片高低温测试机TES-4525、TES-4525W、TES-4555、TES-4555W、TES-45A10、TES-45A10W、TES-45A15、TES-45A25W、TES-45A25、TES-45A25W等型号可以用于中小规模数字集成电路逻辑功能及静态直流参数测试，在微弱电流测试方面有良好的特性；用于二极管、三极管、VMOS、光电搞合器、可控硅等各种半导体分立器件进行参数测试，测试原理符合国标及军标要求，功率参数采用300uS脉冲测试，并采用数据、图形双重显示。用于普通、极化、时间等各类电磁继电器参数的测试，在触点接触电阻和时间参数的测试方面有良好的特性，被我国国军标电磁继电器生产线选用。
芯片高低温测试机通用数字电路和接口电路的逻辑功能和静态直流参数测试以及通用运算放大器及电压比较器的静态直流参数测试，在微弱电压、电流测试方面有良好的性能，适用于低失调和高阻等相同的测试。芯片高低温测试机稳压器测试系统用于正压、负压、固定、可调三端集成稳压器参数的测试，采用四线测试原理，测试夹具全部采用3M公司原装测试夹具，具有良好的测试精度。芯片高低温测试机电磁继电器介质耐压绝缘电阻测试系统用于电磁继电器介质耐压和绝缘电阻等额的测试，测试贯注符合国军标要求。
芯片高低温测试机电子元器件测试系统以其优良的软硬件性能和完善的服务在航天、航空、电子、邮电、半导体、核工业、兵器等行业得到广泛的应用。用户单位包括从事整机研制和生产的研究所和企业，包括从事半导体器件研制和生产的研究所和企业，包括专业从事电子元器件测试筛选的测试中心，也包括一些外资公司和企业。因而创造了良好的经济效益和社会效益。 |
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