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Nand读取时会产生坏块吗??

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boboX|  楼主 | 2011-9-2 12:03 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
产品平台:S3C2410  CE4.2  K9F1208UOC-JIB00(BGA封装)

故障现象:客户在使用时,OS不能启动

怀疑与生产上的MISS有关:
程序是通过编程器烧写,烧写时将原厂的坏块标识擦除了。编程器自身通过校验将检测到的坏块再次设置了标识,烧写成功。

问题点:
三星原厂标识,是否存在将暂时可用的块,但坏掉可能性大的块进行了标识。如果是这样的话,编程器将不恢复原厂的全部标识。是否真有这样的块呢?

产品出厂时进行了大量测试,没有发生一次OS损坏不启动情况。客户用的应用程序与生产上测试程序不一样。

请大家给分析分析问题出在哪?如果是烧写问题,如何补救。

通过EBoot启动信息如下:
  dwSignature: 0x43465349
  String: ''
  dwImageType: 0x2
  dwTtlSectors: 0x4866
  dwLoadAddress: 0x8C200000
  dwJumpAddress: 0x8C201000
  dwStoreOffset: 0x0
  sgList[0].dwSector: 0x2A0
  sgList[0].dwLength: 0x4866
}
chainInfo.dwLoadAddress: 0X00000000
chainInfo.dwFlashAddress: 0X00000000
chainInfo.dwLength: 0X0000000A
}
-TOC_Read
dwSectorsNeeded: 0x4866,  dwLoadAddress: 0x8C200000, dwJumpAddr: 0x8C201000
FMD: ECC ERROR - Page #: 897
FMD: Unable to correct the ECC error - Page #: 897
ReadRamImageFromBootMedia ERROR reading sector: 0x381
OEMPlatformInit ERROR: Failed to load kernel region into RAM.
OEMReportError(-3, 0)

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