打印
[资料干货]

Charge Discharge Modle( 简称CDM)的未来测试主流

[复制链接]
512|0
手机看帖
扫描二维码
随时随地手机跟帖
跳转到指定楼层
楼主
Global007|  楼主 | 2019-7-20 14:23 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
Charge Discharge Modle : 简称CDM,属于ESD研究领域中充放电模式,通俗地讲带电带电荷的器件 (Driver IC)及panle接触到另一个物体时,由于电荷运动,从而产放电形成电流, 从而把器件(panle)给击伤甚至打坏的现象;
从而在器件及panle( Driver IC) 的研发,生产与制造过程, 各大公司及科院研所都会关注CDM这个问题, 都想法设法改善因CDM造成的品质问题;
随着智能通讯终端 ,穿戴式智能产品,车载电子器件,新能源汽车显示屏等等 产业的发展 ,未来大尺寸panle 和面板的CDM测试需求变得越来越被重视, 当然关于CDM的测试最终还是更多地体现在Driver IC的测试方面;现在的国际CDM标准如 ( ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014) (AEC-Q100-011)(ESDA STM5.3.1 (2009))((JEDEC EIA/JESD22-C101 (F) 电子工业协会))((AEC-Q100-011 (Rev-C1-2013) 汽车电子协会(强制执行项目)) ;这些测试标准更多地是关注各行产品中器件的CDM测试,
在未来,CDM测试不仅仅是器件充放电测试, 将更多地关注大尺寸的panle 甚至面板的测试

在这里我们希望能与各位关注CDM未来发展的同行进行交流与合作, 我们格雷柏电子提供相关的测试方案,期待与各位沟通

欢迎咨询 18573116298;

使用特权

评论回复

相关帖子

发新帖 我要提问
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

11

主题

14

帖子

1

粉丝