外部ADC芯片AD7689通过SP工总线与单片机相连,内部基准设置为4. 096V,
通过AD7689的通道5采集荧光强度,每毫秒采集5次,取平均后得到一个点
的电压值。配合承载器的运动,我们最终得到1500个点的电压值,因此共采集了
1. 5秒。采集完毕后,在这1500个点里会出现两个明显的峰。我们称它们为检测
峰和质控峰。接着计算出两个峰高的值,然后进行比值运算得到T/ C的值。将这
个值带到特定公式中进行运算得到待测物质的浓度。最后将浓度值显示出来。
1)某一范围内任意峰的位置:通过测试试纸条得知,共300个点,从START到END,
如200到5000
2)若为选取的峰,则峰高必须大于一个阂值THRESHOLD,如30mVo
3)寻峰完毕后,若出现两个峰,表示能够寻出质控峰和检测峰;若只出现一个峰,
则表示质控峰可以寻出,而检测峰的峰高小于阂值。
4)峰的宽度通过测试试纸条得知,是一个定值W工DTH,如600
5)通过计算峰高或者计算峰面积之比来求得比值。
6)可在本底不平滑的情况进行。
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