[MM32生态] 灵动微ARM Cortex-M内核测试向量生成

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 楼主 | 2020-1-2 14:44 | 显示全部楼层 |阅读模式
灵动微电子基于Arm Cortex-M系列内核开发的MM32 MCU产品拥有F/L/SPIN/W/P五大系列,200多个型号规格,累计交付近亿颗MCU,在本土通用32位MCU公司中位居前列。灵动微是本土仅有的同时获得了ARM-KEIL、IAR、SEGGER国际权威组织官方支持的本土MCU公司,是为数不多的建立了独立且完善的生态体系的通用MCU公司,给客户提供从优异芯片产品到核心算法、从完备参考设计方案到整机开发的全方位支持,真正为中国电子信息产业提供底层技术驱动和支持。下面介绍的是关于灵动微ARM Cortex内核测试向量生成的相关技术

测试向量生成

用自动测试设备(ATE)测试ARM芯片是一种传统的测试技术,其优点是可以灵活编制测试向量,专注于应用相关的功能模块和参数。但是由于ARM芯片的功能与应用有相当的复杂性,因此对测试系统所具有的能力也要求较高。这就要求测试设备本身必须要具备测试各种不同功能模块的能力, 包含对逻辑、模拟、内存、高速或高频电路的测试能力等等。同时测试系统最好是每个测试通道都有自己的独立测试能力,避免采用资源共享的方式,以便能够灵活运用在各种不同的测试功能上。所以常规的AR M 芯片测试设备往往要求相当高的配置才能应对测试需求。

测试的含义非常广泛, 就ARM芯片测试而言,可以定义多种类型的测试,不同类型的测试需要产生不同类型的测试向量。而测试向量生成的方法,虽然可以人工编制, 但大多数情况需要由测试向量生成工具(ATPG) 生成,才能产生比较完备的测试集。本文介绍的ARM芯片测试方法,借助对应的ARM芯片开发工具产生测试代码,再由专用的测试向量生成工具生成测试向量.这种方法的优点是能针对ARM芯片应用开发人员关心的测试集合产生测试向量,因而比较高效,测试成本也能控制在比较低的水平上。可以借助大量的ARM芯片应用软件来转码, 能大幅减少工作量。缺点是不容易用算法来实现自动生成完备的测试代码。

ARM芯片测试向量生成器。测试代码可以从ARM芯片开发例程中获得, 测试向量通过编译器编译成ARM芯片可执行代码, 然后与激励向量和期望向量混合生成完整的ARM芯片测试向量。ARM芯片测试向量生成工具通过时间参数来确定测试代码。激励向量与期望向量之间的时序关系,ARM芯片时间参数可从芯片手册中获得.测试向量生成后, 通过BC3192 集成开发环境下载到测试系统图形卡中,启动测试程序,激励向量依序施加到被测ARM 芯片的输入端口,同时对输出端进行监测比较获得测试结果.综上,测试向量的产生是ARM芯片测试的核心,本文所述测试向量生成器通过输入ARM 芯片可执行代码和芯片时间参数来产生测试逻辑,具有易用.高效的特点,现已用于多个ARM Cortex 内核微处理器的测试中。

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 楼主 | 2020-1-8 15:51 | 显示全部楼层
灵动微电子基于Arm Cortex-M系列内核开发的MM32 MCU产品拥有F/L/SPIN/W/P五大系列,200多个型号规格,累计交付近亿颗MCU,在本土通用32位MCU公司中位居前列

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 楼主 | 2020-1-8 15:52 | 显示全部楼层
测试的含义非常广泛, 就ARM芯片测试而言,可以定义多种类型的测试,不同类型的测试需要产生不同类型的测试向量。而测试向量生成的方法,虽然可以人工编制, 但大多数情况需要由测试向量生成工具(ATPG) 生成,才能产生比较完备的测试集。

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 楼主 | 2020-1-8 15:52 | 显示全部楼层
本文介绍的ARM芯片测试方法,借助对应的ARM芯片开发工具产生测试代码,再由专用的测试向量生成工具生成测试向量.这种方法的优点是能针对ARM芯片应用开发人员关心的测试集合产生测试向量,因而比较高效,测试成本也能控制在比较低的水平上。可以借助大量的ARM芯片应用软件来转码, 能大幅减少工作量。缺点是不容易用算法来实现自动生成完备的测试代码。

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| 2020-1-21 22:28 | 显示全部楼层

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