高价有偿寻找关于集成电路可测试性设计方面的高手帮助
要求：传统的LOC测试不考虑hazard-free，它能检测出的故障集为F1.如果考虑hazard-free的话就会减少一些测试向量，它能检测出的故障集为F2，现在为了检测出故障集F3=（F1-F2）里的故障，必须得通过观测点插入跟控制点插入来提高。请在我提供的考虑了Hazard-free的ATPG程序基础上修改，您们工程师要做的只是在这个程序中加入一些关于控制点跟观测点代码来提高故障覆盖率。比如观测点插入法 参考论文：Improving the Transition Fault Coverage of Functional broadside tests by observation point insertion。
觉得可以做的请联系QQ 52341000 邮箱 gemini_happyzk@126.com
具体可以详谈。
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