打印

探针模组测试使用寿命短怎么办

[复制链接]
672|0
手机看帖
扫描二维码
随时随地手机跟帖
跳转到指定楼层
楼主
kzt2020|  楼主 | 2020-3-24 15:36 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
pogo pin探针模组和大电流弹片微针模组都是精密连接测试模组,在板对板连接器性能测试中却有着明显的区别,通过这两个模组的对比分析就可以看出来。
Pogo pin探针模组是由针头、针管、针尾构成的,内置弹簧,表面覆盖镀金。在大电流测试中,可通过的额定电流为1A,电流传导时从针头传导到针管再到底部的针尾,电流会在不同部位衰减,造成测试的不稳定。在小pitch领域,探针模组的可取值范围在0.3mm-0.4mm之间,针对板对板母座测试,几乎无法实现,稳定性很差,大部分只能采用轻触方案来临时应对。
探针模组还有一个缺陷就是寿命较短,只有平均5w次的使用寿命,在测试中很容易卡pin、断针,经常需要更换,长此下去会增加不少成本,也不利于测试的进行。弹片微针模组有这20万次的使用寿命,可通过电流在50A,在小间距最小可测0.15mm,在性能上远超探针模组

使用特权

评论回复

相关帖子

发新帖 我要提问
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

198

主题

199

帖子

0

粉丝