电子元器件静电防护措施
电子元器件按其种类不同，受静电破坏的程度也不一样，最低的100V的静电压也会对其造成破坏。近年来随着电子元器件发展趋于集成化，因此要求相应的静电电压也在不断降低。 人体所感应的静电电压一般在2-4KV以上，通常是由于人体的轻微动作或与绝缘物的磨擦而引起的。也就是说，倘若我们日常生活中所带的静电电位与IC接触，那么几乎所有的IC都将被破坏，这种危险存在于任何没有采取静电防护措施的工作环境中。静电对IC的破坏不仅体现在电子元器件的制作工序当中，而且在IC的组装、运输等过程中都会对IC产生破坏。
要解决以上问题，可以采取以下各种静电防护措施： 1、操作现场静电防护。对静电敏感器件应在防静电的工作区域内操作; 2、人体静电防护。操作人员穿戴防静电工作服、手套、工鞋、工帽、手腕带; 3、储存运输过程中静电防护。静电敏感器件的储存和运输不能在有电荷的状态下进行。 要实现上述功能，基本做法是设法减小带电物的电压，达到设计要求的安全值以内。即要求下式中的电荷（Q）与电阻（R）要小，静电容量（C）要大。 V=I.R Q=C.V （式中V：电压，Q：电荷量 I：电流 C：静电容量 R：电阻） 当然电阻值也不是越低越好，特别是在大面积场所的防静电区域内必须考虑漏电等安全措施之后再进行材料的选取。 静电防护措施 检查、安装IC静电防护作业场所，本工序防静电措施的目的在于将包括人体在内的作业场所处于同等电位，具体方法如下： 1、将1兆欧的电阻连通后再接地，并佩戴防静电手腕带操作; 2、将测试仪、工具、烙铁等接地; 3、工作台面铺设防静电台垫后接地; 4、操作人员穿戴防静电工衣、工鞋; 5、地面铺设防静电地板或导电橡胶地垫; 6、IC运输、包装过程中应保持同电位。 防静电性能的检测周期及注意事项 防静电台垫、地板、工鞋、工衣、周转容器等应至少每月检测一次。防静电手腕带、风枪、风机、仪器等应每天检测一次。检测时，须考虑受检场所的温度、湿度等因素。
ESD的来源及其危害 两种不同的材料进行摩擦后，一个带上正电荷，另一个带上负电荷，从而在两者之间产生一定的电压。电压的大小取决于材料的性质、空气的干燥度和其它一些因素。如果带静电的物体靠近一个接地的导体，会产生强烈的瞬间放电，这就是静电冲击（ElectroStaticDischarge）。一般来讲，带静电的物体在理论上可以简单模拟成一个被充电到很高电压的小电容。 当集成电路（IC）受到ESD时，放电回路的电阻通常都很小，无法限制放电电流。例如将带静电的电缆插到电路接口上时，放电回路的电阻几乎为零，这将造成高达几十安培的瞬间放电尖峰电流流入相应的IC管脚。瞬间大电流会严重损伤IC，局部发热的热量甚至会融化硅片管芯。ESD对IC的损伤一般还包括内部金属连接被烧断、钝化层被破坏、晶体管单元被烧坏等。 ESD还会引起IC的死锁（LATCHUP）。这种效应和CMOS器件内部的类似可控硅的结构单元被激活有关。高电压可激活这些结构，形成大电流通道，一般是从VCC到地。串行接口器件的锁死电流一般为1安培。锁死电流会一直保持，直到器件被断电。不过到那时，IC通常早已因过热而烧毁了。 对串行接口器件来说，ESD会使IC工作不正常，通讯出现误码，严重的会彻底损坏。 对于串行接口器件，最简单的防护措施是在每条信号线上外加阻容元件。串联电阻能够限制尖峰电流，并联到地的电容则能限制瞬间的尖峰电压。这样做的优点是成本低，但是防护能力有限。虽然能使ESD的破坏力在一定程度上得到抑制，但依然存在。因为阻容元件并不能降低尖峰电压的峰值，仅仅是减少了电压上升的斜率。而且阻容元件还会引起信号失真，以致限制了通讯电缆的长度和通讯速率。外接的电阻/电容也增加了电路板面积。另一种广泛使用的技术是外加电压瞬变抑制器或TransZorbTM二极管。这种防护非常有效。但外加器件仍会增加电路板面积，而且防护器件的电容效应会增加信号线的等效电容，成本也较高。 一个有效的ESD测试应在最高测试电压以内的整个电压范围进行。因为有些IC可能在10kV时通过了测试，但在4kV时反而被ESD打坏了，这样的IC实际上没有抗静电能力。人体模型和IEC1000-4-2标准规定在测试电压范围内必须以200V为一个间隔进行测试，而且要同时测试正负电压。也就是说，从±200V开始测试，±400V，±600V，一直到最高测试电压。对IC的所有可能的工作模式都应分别进行完整的ESD测试。包括上电工作状态，断电停机状态，如果串行接口器件有自动关断休眠模式，还应对这一状态再进行一次ESD测试。所有相关的测试标准和程序都规定，在每个测试电压点，对被测引脚应连续放电10次，考虑到正负电压都要测，实际要放电20次。每一轮放电完成后，应测量被测器件的相应参数，判断器件是否损坏。对于串行接口器件（RS-232，RS-485）应遵循以下判据： ●电源电流是否正常（电源电流增加一般意味着发生了器件死锁）; ●信号发送输出端的输出电平是否仍在参数规格范围内; ●信号接收输入端的输入电阻是否正常（一般在3kΩ到7kΩ（之间）。 只有这些指标都合格，才可转到下一个电压测试点。在所有电压点都测试完以后，还应对IC做全面的功能测试，测量IC的每个参数是否仍在参数标准定义的范围内。只有通过所有这些ESD测试后仍能达到规定参数标准的IC才是真正的抗静电IC。需要注意的是，按一般标准完成ESD测试，但并不能判断IC的好坏。有些ESD测试仪自带了一些参数测量功能，但因不是针对特定器件的参数测量，只是一般的测试手段，因而只能作为一个参考。严格的测试仍应按以上所述的测试程序和测试判据进行。
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