芯片自检测

发表于 2020-4-11 16:44

TMS320f2808怎样实现芯片自检测？

发表于 2020-4-11 16:48

没考虑过这个啊。。。

发表于 2020-4-11 16:51

由于软件工作在不同的工作模式，需要将部分软件屏蔽，本人采用的是调用FLASH2808 API的flash_Erase函数进行擦除不必要的程序，但是擦除不成功，后来将中断屏蔽后擦除成功了，但使能中断后，会进入非法中断，不知道什么原因？

发表于 2020-4-11 16:55

TI没有针对28x芯片提供self test 库；听说过段时间会提供。

发表于 2020-4-11 17:00

FLASH API运行时不能使能中断，这在API的PDF说明文档中有详细说明。

发表于 2020-4-11 17:04

芯片自检测应该有简单的测试程序

发表于 2020-4-11 17:08

FLASH API运行时不能使能中断的

发表于 2020-4-11 17:11

有些芯片有 test 函数， TMS320f2808不知道有没

发表于 2020-4-11 17:15

这个用的少，先不发表意见的。

发表于 2020-4-11 17:19

芯片自检？是不是类似于程序初始化的部分的额？

发表于 2020-4-11 17:27

查看相关test函数就可以使用了吗？

发表于 2020-4-11 17:30

看看，用flash烧录感觉也是可以的吧。。。

发表于 2020-4-11 17:33

擦除不成功，十有**是中断的问题了。

发表于 2020-4-11 17:35

芯片自检的重要性就不说了，慢慢做的吧。

发表于 2020-4-11 17:38

唉，还是没有什么结果，算了，多谢大家啦

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