一个时钟芯片的困惑

只看该作者 · 2009-3-1 23:10

各位好.不才是一个电子元器供应商.最近碰到一个头疼的事.我供给一个客户一款DS12CR887+5.本人的货物是从美信代理定购的.货物绝对是原装正品.这款器件的技术标准是可以在-40到80度的工作范围的.但我客户产品在零下10来度的时候就出现故障.结果他就用我供的货做高低温测试.在零下30摄氏度的情况下,大部分部件的计时器停止运转,当温度上升时,计时器又开始运转.也就是在低温的状况下就不行了.我向代理反映了这个问题.也提供了三片测试不行的芯片给美信进行测试.但美信的故障分析报告我的这三片样品没问题.这可要如何是好???真是让人头疼啊.请那位大虾解此困顿.如果能解决此难题.在北京请吃大餐.在外地有礼物.请各位能人解这让人困惑的问题.另外是否有一款跟DS12CR887+5一样的时钟芯片可以替换的.一样是可以在零下30度左右工作的芯片.在此先谢过.l7805cv@163.com TTL010-82627855

4万 · 2009-3-2 00:05

只看该作者 · 2009-3-2 04:22

1.-30度时电源(或电池)是否正常?
2.晶振是否正常?
3.晶振引脚上连的电容是否正常?
多半是晶振不起振引起的.晶振不起振有可能是晶振的问题,也有可能是匹配电容的问题.

只看该作者 · 2009-3-2 08:40

虽然我没用DS12887，用的是8563，前两天刚遇到过这个问题，在-10度的时候，晶振挺振，一批里面不一定都有问题，后来全换了。当初买晶振的时候，供货商说是工业级的。

只看该作者 · 2009-3-2 09:10

2万 · 2009-3-2 09:23

只看该作者 · 2009-3-2 11:22

这个事，不是美信的片子不好，就是你的客户没用好。你还是轻松的。呵呵。

请美信提供测试方法和测试报告。请你的客户注意该芯片的测试方法和条件。查他们的测试方法和条件间的差异。

只看该作者 · 2009-3-2 22:57

用DS12CR887做成的产品在室外断电放一个晚上第二天时间就清零了.然后做实验也是断开外部供电的情况下.做低温保存实验，7个小时左右.这时候时钟会停止数据会丢失。（因为本芯片内部是设有电池供电，在外部不予供电的情况下，能保持时钟和数据一年以上不丢失。）
DS12CR887+5手册提供的参数是：使用温度-40℃---+-85℃，而上述有问题的元件即时是在-10℃的环境下也不能保证正常使用。跟代理的技术支持也交流过实验的方法和过程的细节.对方也认可.所以这个很头疼.

2万 · 2009-3-3 09:05

不过DS12887应该已经停产了把。。。

2万 · 2009-3-3 09:06

但质量怎么样就不知道了，我都是自己做电池加OSC的

只看该作者 · 2009-3-3 09:59

只看该作者 · 2009-3-5 12:18

请问那位知道是否有可以替换DS12CR887的时钟芯片?

只看该作者 · 2009-3-5 16:41

SD2405API 工业级温度范围,内置充电电池

www.whwave.com.cn
tel:0755-83246178

2万 · 2009-3-5 17:27

如果你想用普通元件过高低温测试，你可以建议你的客户把设备戴在身上进高低温测试箱测试啊:-)

只看该作者 · 2009-3-5 19:41

后来检查发现不是晶振的问题，而是匹配电容的问题，

因为所有的电路都会受到温度的影响，尤其是半导体电路，
可能单片机里的反相器在低温下放大倍数和驱动能力都会降低，
所以相同的晶振常温能正常工作，但是低温的时候就不能工作了。

只看该作者 · 2009-3-6 11:05

测试时断开与12887的电气连接或者单独测试，
测试后再接上，看是否运行正常，这样可避免由于其它电路低温故障可能导致的这个时钟IC故障，比如程序紊乱发生错误操作的可能。

只看该作者 · 2009-3-6 16:55

高可靠性设计，力求在恶劣环境下时钟数据不丢失、不紊乱、不停振，向用户提供高可靠的IC！
1.独有的内置VBAT模式IIC总线通信禁止功能，从而避免在电池供电时CPU对时钟操作所消耗的电池电量，也可避免在主电源上、下电的过程中因CPU的I/O端口所输出的不受控的杂波信号对时钟芯片的误写操作
2.独有的内置三个时钟数据写保护位, 避免对数据的误写操作，可更好地保护时钟数据
3.独有的内置IIC总线0.5秒自动复位功能(从Start命令开始计时),保证时钟数据的有效性及可靠性,避免IIC总线挂死问题。
4.芯片管脚抗静电(ESD)>4KV。
5.芯片的锁定效应(Lacth up)电流>190mA
6.芯片在兴威帆的评估板上可通过4KV的群脉冲(EFT)干扰。
7.芯片通过严格的高温(+85℃)、低温(－40℃)测试。

只看该作者 · 2009-3-6 22:37

测试时是单独测试的.

只看该作者 · 2009-3-9 15:42

12887自带电池和晶振，12885则要外接。

12887我们公司也在用啊，感觉比较稳定，就是价钱太高了，据老板说，1颗差不多要20块钱。

一个时钟芯片的困惑

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可能是外围器件的问题，重点检查晶振

最好请一个懂电子的去测试一下

99%不是芯片的问题

晕倒，回答前总该先了解一下DS12CR887不是？

这个带后备电池,内部带晶震的，嘿嘿...ls各位...

你还是轻松的

我怀疑是美信的片子的问题.

美信不能证明没问题，那就退货罢。。。

深圳兴帆微有类似东西的把

还是换一个吧

是否有可以替换DS12CR887的时钟芯片

申请时钟免费样品

因为手表是戴在手上的啊，有人体给它恒温呢

偶也遇到过低温的时候晶振不起振的问题

既然是自成系统的，那么就单独测试

sd2400时钟可以考虑一下

是单独测试.

究竟是12887还是12885A啊

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