本帖最后由 hu9jj 于 2020-5-23 19:00 编辑
今天继续测试ADC，首先比较了官方例程中的固件库版和寄存器版，两个版本的功能完全一样，但编译后的代码长度却相差很大，下图是固件库版本的串口输出数据截图：
这是寄存器版本的串口输出数据截图：
这是固件库版本编译后的代码长度，Code=8616字节：
这是寄存器版本编译后的代码长度，Code=5276字节：
相比较，使用寄存器的效率应该提高不少。
我学单片机编程时间不长，还不会使用寄存器编程，感谢灵动公司提供寄存器编程的例程，让我有机会更容易去学习寄存器编程。
然后我又继续昨天的多通道ADC转换测试，我将HAL_adc.c文件中的函数全部作了中文注释（见下图）：
然后参考用户手册中的说明，了解到ADC的三种转换模式，即单次转换模式、单周期扫描模式和连续扫描模式，我需要测试的是单周期扫描模式，也找到了使能DMA的函数，但最后就是不知道该如何将定义的ADC_BUFF数组与DMA联系起来，读不到数据。
最后受到坛友发帖的启发，采取在主循环中逐个单次转换模式，分别转换1、4、5三个通道及温度和内部参考电压的数据，可是在测试时却没有达到预期，我通过注释的方法逐个运行各通道，能够正常转换数据，将温度和内部参考电压两个通道同时运行时也可以正常转换数据，如下图：
然而尝试将通道5添加进来，结果导致温度数据不正确，转换值应该与通道5一样：
我求助于坛友zhangbtj，他运行我的代码却能够得到正常结果，我们运行的都是厂家提供的例程，应该不会有差别，不知道为什么会结果不同。这是相关的链接：https://bbs.21ic.com/icview-2962276-1-1.html
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