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SD擦除测试失败

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冷冻链|  楼主 | 2019-11-28 15:04 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
sd, buffer, se, ST, TE
各位：
     小弟在测试SD卡时，出现了“SD擦除测试失败”的结果，用硬件调试查看了SD_EraseTest函数中的Buffer_MultiBlock_Rx变量在读取擦除区域后被赋值为：0、1、2...、（32*512-1）；请教这是什么情况啊？

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