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求助：关于掉电保存数据的问题

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楼主
iiset|  楼主 | 2009-6-28 21:11 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
flash, MCU, 存储器, 51系列, Flash存储器
我要测一个产品数据，完整的一组大概200个数据吧，为了防止掉电后数据丢失，每测一个用flash存储器存一次，有可能意外没测完，要求有下次开机接着测试的功能，问题是我怎么得到关机前一个数据的信息？ 
我想的是把当前刚测的数据信息（在flash中的存储地址，及本次测试的数据序号）保存到flash的另一个地址中，但问题是测完200条数据，它的地址已重复擦写了200次，不久就会坏了，有什么好的想法，希望大家指点一二，感激不尽啊 

MCU是51系列，flash是AT45DB系列 

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沙发
iiset|  楼主 | 2009-6-28 22:26 | 只看该作者

在线等，自己顶上来

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板凳
yunding| | 2009-6-28 22:38 | 只看该作者

备用电源

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地板
iiset|  楼主 | 2009-6-28 23:03 | 只看该作者

谢谢楼上

我们产品用的是蓄电池，硬件上基本定了。
我主要任务是在原有的基础上增强产品的功能，使其更人性化，傻瓜化。

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5楼
McuPlayer| | 2009-6-28 23:30 | 只看该作者

这个就是保证数据完整性的问题了

处理方法类似于OS的critical section的问题
比如，在Flash的某个区域做起始标志和结束标志
flash擦后是0xFF，测试开始前把起始标志写个0x55
开始测试，并把测试数据写入对应的位置
测试结束后，把结束标志写个0xAA

下次上电，或者WDT叫你回来的时候，如果我们预定的
0x55和0xAA都在，数据是完整的，可以使用
如果只有0x55,而0xAA的位置是0xFF表示测试中途被break了，数据不完整，丢弃之

其实，还有更好的方法，自己想去吧，但思路基本是这个了

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6楼
tage| | 2009-6-29 13:07 | 只看该作者

铁电

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7楼
chunyang| | 2009-6-29 17:05 | 只看该作者

不可用FLASH

应该用铁电存储器配合后备电源或法拉电容实现，数据完整性用标识字节实现，基本思路如5楼，但标识字节用循环码＋累加和共同实现可靠性更佳。

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8楼
iiset|  楼主 | 2009-6-29 18:39 | 只看该作者

谢谢楼上几位了

我想的是在每条数据前加本组数据的序列号，也算是累加吧，
至于循环码不太清楚。今晚补习一下。


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9楼
lanmp| | 2009-6-30 10:09 | 只看该作者

空间换次数

数据从上向下写，序号从下往上写。写满了擦。

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10楼
linqing171| | 2009-6-30 12:53 | 只看该作者

回楼上，你的序号是0~254的么？

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11楼
lanmp| | 2009-6-30 13:03 | 只看该作者

随便

长度固定就行了。

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12楼
guang309| | 2010-4-7 16:43 | 只看该作者
高手们小第问个问题，那个FLASH里边有程序代码！在进行其它数据写入的时候怎么知道哪个地址是不是程序代码啊？

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