做SCAN 时 , 提到的 hierarchical scan 指的是什么? 是如下的1)还是2)或者 其他解释 ?
1)是把整个design 分成几个大的module,各个module 单独做 EDT+ 串chain ,然后再合到 whole chip 一起出pattern 吗?
2)还是把整个design 分成几个大的module,各个module 用wrapper chain 包起来 再做 EDT+ 串chain ,然后再合到 whole chip 一起出pattern?
用wrapper chain 把 module 包起来做scan 的方法, 在什么情况下会用? 有何优缺点, 公司里一般会用这种方法吗? |