本帖最后由 巴卡巴卡 于 2020-9-8 13:56 编辑
卓彩提供半导体大数据测试解决方案 --- 帮助客户快速推进产品进程，助力中国芯片科技！ STDF HelperV2.0版本发布，产品迭代，为更好的用户体验！ STDF Helper支持本地及云部署，无需了解STDF库的底层设计，卓彩生成解析STDF文件,并拟表格、图表的形式为您显示所有的测试数据，单台服务器单实例每小时可处理150/G-450/G的STDF测试数据，支持多台部署和负载均衡助您提高测试速度、降低成本。
STDF Helper在线解析，无需下载任何解析工具，安全、性能充分保障。 STDF Helper解析的数据、图表以zip压缩包的形式回传用户。 STDF Helper支持云端解析，本地解析,私有云(解决方案)解析。 测试是对产品的品质做的严格筛选，以提供用户高质量的产品，这种统一的数据记录格式对于测试生产商以及半导体业数据管理者来说重要性不言而喻。
测试-----半导体生产过程的核心环节半导体的生产流程包括晶圆制造和封装测试，在这两个环节中分别需要完成晶圆检测（CP, Circuit Probing）和成品测试（FT, Final Test）。无论哪个环节，要测试芯片的各项功能指标均须完成两个步骤：一是将芯片的引脚与测试机的功能模块连接起来，二是通过测试机对芯片施加输入信号，并检测输出信号，判断芯片功能和性能是否达到设计要求。
卓彩STDF解析工具通过转换，将原始数据解析成可看得明白的数据在表格或者图表上呈现。 通常情况下，通过测试机收集的数据直接为STDF格式，因为每个文件所包含数据有所不同；为了提高数据的管理效率和可靠性，必须把所有的原始数据作为单个测试文件。也就是说，应将相同功能的数据归类整理和排列后，作为一个文件输出。因此，文件中必须包括FAR、PCR、MRR，而其它数据记录类型则可作为可选项。所以，文件中可以包括一些合成的数据列表、概要、测试位置概要等。实际上，由于以下一些因素的影响，STDF文件结构顺序可能被打乱，这些影响因素如下: a) 测试晶圆; b) 多个芯片平行测试; c) 测试中描述性记录要求的使用; d) 测试过程中数据列表的使用。 大部分半导体企业一般都是利用别人开发的转换工具解析STDF文件并保存为txt或Excel文件，做到系统化的解析测试结果并存储到数据库。卓彩的stdf工具支持local云部署，提供关注测试项的数据校验，报表生成，常见图表分析。单台服务器单实例每小时可处理150/G-450/G（压缩前）的STDF测试数据，支持多台部署和负载均衡助您提高测试速度、降低成本。
在物联网，人工智能，汽车电子等技术的推动下，也正如我们所熟知的高通事件，华为事件牵动着作为中国人的一颗心，为了快速提升中国在世界科技领域内的竞争力，国家大力发展集成电路产业，半导体行业正迎来新一轮发展机遇。
这些新技术被攻坚突破的同时，由于不同厂家往往提供不同的自动测试机型号以及在不同的操作平台下工作，测试数据的记录格式往往是由各个厂家自己定义的；在实际生产过程中，由于繁多的记录格式会引起诸多不便，往往需要用户根据自己的需求重新进行数据的转换与处理，以达到数据格式的统一，才能放入自己的数据库来满足自己的数据分析和管理要求。
本系统成功运用于半导体界各知名企业，典型合作案例有福建三安集团，SEMI Integration.
全球半导体业发展进入中国时间，“摩尔定律”终点临近，但半导体产业的垄断性却在加剧，导致新的“不公平”诞生，不利于产业的正常发展与进步； 中国芯加油！ 卓彩愿与中国半导体企业同心协力，齐头并进，贡献自身的绵薄之力！
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