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KZT BGA169测试座

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KZT BGA169测试座
产品特点:
◆ 采用手动翻盖/双扣式结构,操作方便;
◆ 上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位;
◆ 探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠,而不会损伤锡球;
◆ 高精度的定位槽和导向孔,保证IC定位精确,测试效率高;
◆ 测试频率可达9.3GHz;
◆ 用途:集成电路应用功能验证测试;
◆ 有翻盖式结构和双扣结构两种方式可供选择,操作方便;
◆ 上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位;
◆ 探针的特殊头形突起能刺破锡球的氧化层,接触可靠,而不会损伤锡球

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