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KZT DFN8测试座 WSON8-1.27老化座 QFN8 5*6mm下压探针老化座现货

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凯智通|  楼主 | 2020-10-24 14:01 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
QFN, ic, 引脚, 芯片, CAD
DFN8-1.27（5*6)下压探针老化座

产品简介

A、产品用途:老化座、测试座，对DFN8的IC芯片进行老化测试

B、适用封装:WSON\QFN\DFN8 引脚间距1.27mm

C、测试座:WSON\QFN\DFN8(5*6)-1.27

D、特点:探针结构，接触稳定，性能更稳定

E、座子外壳采用特殊的工程塑胶，强度硬、寿命长

F、我司可提供规格书（布板图）资料，PDF档\CAD

G、IC进行有锡球、无锡球不同测试，，交期快，提高使用效率

规格尺寸

A、型号:WSON\QFN\DFN8(5*6)-1.27

B、引脚间距(mm):1.27

C、脚位:8

D、芯片尺寸:5*6

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