本帖最后由 jinglixixi 于 2020-12-4 14:30 编辑
在CH32V103开发板上配置了W25Q16存储器，其接口电路如图1所示。
图1 接口电路
此外，官方还提供了测试例程。其实，从程序看它是一个W25QXX系列的光谱测试程序，所支持的芯片有： W25Q80、 W25Q16、 W25Q32、W25Q64及W25Q128，除了容量不同外，也就剩下名称不同了。 由于是例程，大家都能得的到，程序就不在这里提供了。 其实际的测试过程主要有下列语句实现： printf("Start Write W25Qxx....\r\n"); SPI_Flash_Write((u8*)TEXT_Buf,0,SIZE); printf("W25QxxWrite Finished!\r\n"); Delay_Ms(500); printf("Start ReadW25Qxx....\r\n"); SPI_Flash_Read(datap,0x0,SIZE); printf("%s\r\n", datap ); Delay_Ms(500); printf("Start Erase W25Qxx....\r\n"); SPI_Flash_Erase_Sector(0); printf("W25Qxx EraseFinished!\r\n"); Delay_Ms(500); printf("Start ReadW25Qxx....\r\n"); SPI_Flash_Read(datap,0x0,SIZE); printf("%s\r\n", datap ); 也就是说，它是按照这样的流程来处理的，即： 写入-->读取--->显示-->删除-->读取 在对程序编译后，给出的提示为：
天哪，23个错误！ 仔细一看，错误只是一种，原始而又低级，竟像使用单片机一样直接通过赋值0和1来输出高低电平！ 以函数SPI_Flash_ReadID()为例，其原内容为：
修改后，则为：
经再次编译，其结果为：
在完成程序下载后，其运行结果如图2所示。 图2 运行结果
完了，没戏呀！读写失败。 看过一遍原理图之后，才发现原来片选信号竟被截流了，起连接作用的电阻R11原来没有焊。 找到问题就好办了，将R11的位置直接短接即可。 再进行测试，一切OK,其运行效果见图3所示。
图3 正确结果
有了W25Q16存储器，后面再遇到存储容量紧张的问题就好办了，直接扔给W25Q16即可。
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