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军用电子元器件二次筛选
电⼦元器件筛选和破坏性物理分析(DPA)是剔除早期失效元器件、及时发现假冒翻新元器件的有效⼿段。 电⼦元器件筛选是通过⼀系列短期环境应⼒加速试验及测试技术，对整批电⼦元器件进⾏全批次⾮破坏性试验，挑选出具有特性的合格元器件或判定批次产品是否合格接收，提⾼产品使⽤可靠性。
元器件筛选的目的： 1. 剔除早起失效产品。 2. 提高产品批次使用的可靠性。
元器件筛选的特点： 1. 筛选试验为非破坏性试验。 2. 不改变元器件固有失效机理和固有可靠性。 3. 对批次产品进行100%筛选。 4. 筛选等级由元器件预期工作条件和使用寿命决定。
二次筛选测试项目： 1.检查筛选：显微镜检查、红外线⾮破坏检查、 X射线⾮破坏性检查。 2.密封性筛选：液浸检漏、氦质谱检漏、放射性⽰ 踪检漏、湿度试验。 3.环境应⼒筛选：振动、冲击、离⼼加速度、温度 冲击、综合应⼒。
元器件筛选覆盖范围： 元件类：电阻、电容、电感、敏感元件、磁性元件、滤波器、晶体振荡器。 器件类：光电耦合器、二极管、晶体管、集成电路。 机电类：继电器、开关。 线缆类：连接器、电线电缆。
我们的设备能力： 1.老炼需要的设备： Ø 集成电路高温动态老炼系统、混合集成电路高温动态老炼系统 Ø 电源模块高温老炼检测系统、分立器件综合老炼检测系统 Ø 分立器件间歇寿命试验系统、电容器高温老炼检测系统 Ø 继电器低电平寿命筛选系统、电容高温反偏老炼系统 Ø 二极管恒流老炼系统 2.电测试需要的设备： Ø 阻抗分析仪、高阻计、耐压测试仪、半导体参数分析仪 Ø 高精度图示仪、可编程电源、电子负载、示波器 Ø 频谱分析仪。 3.目检、外观检查需要设备： Ø 光学显微镜、金相显微镜。 4.理化检测能力覆盖： ü 外观检测、内部无损检测、密封性测试、内部缺陷测试。
覆盖标准 ： GJB128A-97半导体分⽴器件试验⽅法 GJB 360A-96 电⼦及电⽓元件试验⽅法 GJB 548B-2005 微电⼦器件试验⽅法和程序 GJB 7243-2011军⽤电⼦元器件筛选技术要求 GJB 40247A-2006 军⽤电⼦元器件破坏性物理分析⽅法 QJ 10003—2008 进⼝元器件筛选指南 MIL-STD-750D 半导体分⽴器件试验⽅法 MIL-STD-883G
⼴电计量从1964年开始从事计量检定⼯作，是原信息产业部电⼦602计量站，历经五⼗余年的技术 沉淀，持续变⾰创新，实现跨越式发展，成⻓为⼀家全国性、综合化、军⺠融合的国有第三⽅计量检测机构，专业提供计量校准、产品检测及认证、分析评价、咨询培训、检测装备及软件系统研发等技术服务和 产品，获得了CNAS、DILAC、CMA、CATL，以及“军⼯四证”等政府和⾏业众多权威机构的认可资质。 依据各⾏业及领域客户的需求，⼴电计量精⼼打造出涵盖计量校准、可靠性与环境试验、电磁兼容 检测、化学分析、⻝品农产品检测、环保检测、产品认证、技术咨询与培训、质检⾏业信息化系统开发、测控产品研发的⼀站式计量检测技术服务和产品，贯穿企业品质管控全过程。
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