对stm32的内存进行压力测试，有什么好的方法没？

发表于 2020-12-16 23:38

发表于 2020-12-16 23:44

对内存压力测试啥意思

发表于 2020-12-16 23:51

楼主的想法是什么？

发表于 2020-12-16 23:54

是要看硬件好不好使？还是测速什么的

发表于 2020-12-16 23:57

写读检验写读检验写读检验写读检验写读检验 .....

周而复始

发表于 2020-12-17 15:46

你按大数据读写然后搞个串口打印

发表于 2021-1-4 19:38

先明确“压力测试”的概念和内容。

发表于 2021-1-4 19:43

在不同的温度下对32的内存不停的进行读、写、校验。看读写的数据是否是一致的

发表于 2021-1-4 19:48

写入特定的一组数据，然后读出直接比较就是，或者简单做个累加和校验也就行了

发表于 2021-1-4 19:51

你的这个测试纯属多余，ST的产品只要在器件手册载明的工作温度范围内，随你怎么对内存读写多少次都决不可能出错

发表于 2021-1-4 19:56

用累加和足矣，当然CRC也没什么难的。

发表于 2021-1-4 20:06

不一定是多余的，据我所知，在一些要求比较高的场合确实需要这样的测试。

发表于 2021-1-4 20:10

比如在IEC61508，功能安全认证中，对MCU就有各种功能模块的校验与测试，而且是在程序运行过程中进行。

发表于 2021-1-4 20:11

没试过，但是你可以试试

发表于 2021-1-4 20:14

肯定不多余啊，不同的硬件设计电源走线会有影响的，尤其外挂存储

发表于 2021-1-4 20:17

外部RAM可以做耐压测试，内部没有必要，大批量产了都已经；

发表于 2021-1-4 20:20

什么叫内存压力

发表于 2021-1-4 20:24

不明白什么叫压力测试

发表于 2021-1-4 20:30

内存有什么压力

发表于 2021-1-4 20:33

搞定了，呵呵，犯了低级错误……多谢各位

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