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ESD对电路破坏机制及失效原因

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JKSEMI|  楼主 | 2021-3-5 16:31 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
ESD对于电路引起的干扰、对元器件、电路及接口电路造成的破坏等问题越来越引起人们的重视。目前手机的功能越来越强大,而电路板却越来越小,集成度越来远高,使得其ESD敏感越来越容易受到静电的损害。北方的天气比较干燥,容易产生静电击穿手机的电路,某些设计不好的手机就是这样突然坏的。在手机开发过程中,也经常碰到ESD引起的失效问题,比如ESD喇叭无声,LCD白屏,黑屏,屏闪,死机重启等。

ESD静电放电有两种主要的破坏机制:

1)由ESD电流产生的热量导致设备的热失效;

2)由ESD感应出过高电压导致绝缘击穿。 两种破坏可能在一格设备中同时发生,例如,绝缘击穿可能激发大的电流,这又进一步导致热失效。

除容易造成电路损害外,静电放电也是极易对电子电路造成干扰。静电放电对于电路的干扰有二种方式。 一种是传导干扰,另一种是辐射干扰。

ESD失效的原因

1.外观有开孔,内部有敏感ESD器件

2.电子件,电子结构件,结构内置和外观五金件未接地

3.硬件电路未加ESD保护

4.导电接地材质导电性能差,接地不稳定

5.产品外观面经过表面处理后导电性下降,使得接的无效或不稳定

6.ESD到内部器件放电距离小,间隙大,同时内部有ESD敏感器件

7.器件本身抗ESD能力差

8.测试标准问题

ESD防护需要考虑的方面很多,只有从各种源头上降低ESD影响,才能真正做出安全可靠的电子产品。上面我们分析了ESD失效的原因,不难看出,电路本身的设计对ESD问题有着不可忽视的重要影响。PCB合理布置,以及ESD保护器件的选择都是ESD电路保护的重点。

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