AT32F421 ADC 有趣试验

发表于 2021-5-1 11:48

本帖最后由 GlenX 于 2021-5-2 15:17 编辑

对于AT32F421的ADC最高采集时钟设置，前面为了让测试顺利，我取了10M采集时钟。

ADC的零点和最大值上都有约±5mv的离散度，本以为是正常结果，并很满意，但今天我

根据时钟定义，我提高到了20M，离最大28还有距离，但下一档就超过了，所以，只能做20M试验了。

结果出乎预料：

零点和3.3v测试竟然在mv级没有误差，误差在小数点后第4位，这完全超出了我的认知。

总结：

不一定ADC采集时钟越慢或周期越长就精度越高！

期望大家注意，最高采用和MCU较为规整的整数采集频率，例如MCU为120M，则采集时钟取8和12的整数倍，

例如：3、4、6、8、12、20 MHz等，并测试后采用误差最小且更最稳定的一个时钟，作为ADC时钟。

发表于 2021-5-2 10:17

感谢楼主分享

发表于 2021-5-2 16:10

看来ADC性能还不错哦

发表于 2021-5-19 11:10

用的是外部晶振吗

发表于 2021-5-19 21:02

gregrgr 发表于 2021-5-19 11:10
用的是外部晶振吗

外部晶振，8MHz，主频120MHz.
很好的体验。

发表于 2021-5-21 10:01

配置ADC通道转换顺序和时间方面，前两个稍低，其他正常。实验已经配置成120M ADC时钟20M。一共10个通常批量采集的

发表于 2021-5-21 10:04

尝试好几种时间长度都没有改善的，ADC_SampleTime_239_5 ADC_SampleTime_71_5 采样率10K 5k 都尝试过了，没有改善

发表于 2021-5-21 10:08

奇葩的是413C8T7是正常的421C8T7就有这个问题

发表于 2021-5-22 09:36

yuri1230 发表于 2021-5-21 10:08
奇葩的是413C8T7是正常的421C8T7就有这个问题

对不起，是10k以内

发表于 2021-7-3 10:53

最高采用和MCU较为规整的整数采集频率，例如MCU为120M，则采集时钟取8和12的整数倍，

例如：3、4、6、8、12、20 MHz等，并测试后采用误差最小且更最稳定的一个时钟，作为ADC时钟。

我感觉，我的小学没上好，没懂这个什么是“8和12的整数倍”

发表于 2021-7-4 17:10

本帖最后由 GlenX 于 2021-7-4 17:12 编辑

没表达准确，是想说建议：“8和12的整数倍”，或接近，最好试试。例如我试过30MHz还能正常工作，这超出了芯片的参数范围。所以属于不建议使用的。

发表于 2021-7-6 14:30

的确是很棒的体验，帮楼主顶一下

发表于 2021-8-5 17:12

感觉楼主的分享精神。

发表于 2021-8-7 10:20

这个确实不错的试验，很好的试验，有必要好好的推广一下的。

发表于 2022-10-14 11:53

滤波处理下那几毫伏都没有了

发表于 2022-10-17 21:42

提高采样精度与干扰处理是不同的方向。
如果能从采集上提高精度，则很多时候滤波也变得简单了很多。

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