问题: 该问题由某客户提出,发生在STM32F205VCT6 器件上。据其工程师讲述:为了实现产品的设计中使用STM32 的 USB OTG 接口,作为其产品的一个通用 USB 接口来用。在其产品小批量试产后,发现 STM32的 USB OTG 接口在其产品的使用过程中易损坏。 调研:
使用 USB OTG 驱动库的 DEMO 程序对芯片进行测试,发现其 USB OTG 接口在功能上的确已失效。测量该芯片在复位状态下的工作电流,在 90mA 左右,明显偏大。对该芯片做 FA 处理,结果表明该芯片的USB OTG 接口已被 ESD 损坏。检查硬件设计,发现该接口未做 ESD 保护。
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