问题: 该问题由某客户提出,发生在 STM32F103VBT6 器件上。据其工程师讲述:其产品在老化测试中出现个 别样机通电后不工作的现象。对该样机重新通电,可以恢复正常。但在后续的测试中还会偶尔重现不 工作的现象,呈现很强的随机性。 调研:
检查其硬件设计,未发现其它异常,只有 VDD 和地之间的滤波电容为 470uF,略显偏大。 将该电容替换成 220uF 后,重新测试,未见前述现象重现。
结论:
过大的滤波电容导致上电缓慢,从而引发复位不良。
处理:
重新选取该元件的参数,以满足上电复位的要求。
|