测试代码使用的是hc32f4a0_ddl_Rev1.3.0\example\exmc\exmc_dmc_sdram_is42s16400j7tli MDK工程SDRAM使用是ESMT M12L2561616A-6TI,在改为使用60MHz后按Byte read/Write 测试没有问题,但是Halfworf read/write测试出错,使用官网提供的例程的测试代码是没有问题,但是将测试代码m_au16WriteData[i] = 0x5678;这一行修改为m_au16WriteData[i] =i;后测试出错
有华大技术支持的联系方式吗?
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