在上一章节中我们介绍了FLASH检测的实现方法,本章节中给大家介绍一下系统时钟自检的检测方法。
MCU内部有4个时钟源:
外部高速时钟源(HSE):外部晶振选择范围为2-24MHz
外部低速时钟源(LSE):可以使用一个32.768KHz的晶体/陶瓷谐振器构成的振荡器产生
内部高速时钟源(HSI):HSI振荡器的典型频率为 48MHz
内部低速时钟源(LSI):LSI振荡器的典型频率为40KHz
MCU有时钟安全系统(CSS)模块,除了MCU的硬件时钟安全机制之外,还可以结合软件对系统时钟进行检测保障安全。 |