在前面的几个章节中我们介绍了关于MM32F0130系列的ClassB 认证的实现方式,本章节中我们将为大家介绍在MM32F0130上ClassB认证的各部分代码段测试所花费的时间。
ClassB认证的各部分代码段运行都会增加MCU的负担,为防止认证代码影响应用控制,我们需要对各个部分代码执行时间进行测试,分时段利用时间空隙进行自检。耗时与很多因素有关系,MCU的性能和开发环境都会有影响,在单次运行中执行启动测试,测试时间取决于MCU性能和测试区的大小。运行期间测试逐块执行,因此其时间也取决于被测试块大小和测试的重复频率。 |