各位老师，
我在设计测试系统中（16BIT输出及采样）遇到相关ADC/DAC问题如下，
1，采用DAC7744（16BIT，四通道输出)输出一高精度电压,电压范围从-10V~10V,要求在全量程内其误差小于0.5mV.DAC7744采用正负2.5V基准，也就是说输出大于2.5V时需要进行放大。
我对DAC7744参数分析，对如下参数需要注意，INL,DNL,ZERO ERRO，FULL SCALE ERRO ,FULL SCALE MATCHING，这些误差叠加在一起，且若用于放大档位输出时（用2.5V基准如果输出10V，则需要放大四倍），很明显误差将更大，远超出0.5mV。
于是我考虑软件补偿。INL,DNL无法补偿。问题：是否我可以用软件先减去ZERO ERRO,然后对全量程进行百分比FULL SCALE的校正，例如，如果FULL SCALE ERRO 为0.01%，则将整个量程所测得的值都减去其本身的0.01%？且ZERO ERRO 和FULL SCALE ERRO都是固定的，漂动不大，可以固定补偿？
2，对高精度ADC，即模拟信号测量的误差校正是否可以采用和以上类似的方法呢？
3，我用SAR ADC（16BIT)测量一信号发现漂动2~3mV左右，然后用sigma-delta ADC（AD7705,16BIT)测量，发现准得吓人(几乎准确到16BIT的最后一位），不知道什么原因？从理论上讲SIGMAL-DELTA ADC都是采的瞬时值？ |
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