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凯智通 QFN52-0.4下压弹片测试座/老化座

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洋洋洋吗|  楼主 | 2021-7-31 15:29 | 显示全部楼层 |阅读模式
凯智通 QFN52-0.4下压弹片测试座/老化座
产品简介
A、产品用途:编程座、测试座,对QFN52的IC芯片进行老化、测试
B、适用封装:QFN52引脚间距0.4mm
C、测试座:QFN52-0.4
D、特点:采用U型顶针,接触更稳定,寿命长
规格尺寸

A、型号:QFN-52-0.4
B、引脚间距(mm):0.4
C、脚位:52
D、芯片尺寸:6*6mm
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