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凯智通 QFN20-0.5翻盖弹片测试座

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凯智通 QFN20-0.5翻盖弹片测试座

产品简介
A、 产品用途:编程座、测试座,对QFN20的IC芯片进行烧写、测试
B、 适用封装:QFN20-0.5
C、测试座:QFN20-0.5烧录座
D、 特点:底部引出引脚为不规则排列
E、使用寿命:15000次(机械测试)
规格尺寸
A、QFN20编程座/测试座适用芯片详细规格,以及适配座外形尺寸:
B、 型号:QFN-20-0.5烧录座
C、 引脚间距(mm):0.5
D、 脚位:20
E、 芯片尺寸:4*4mm


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