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在使用ADC的时候发现一些疑问，和调试分析分享 1.手册上介绍ADC有个低功耗模式，配置寄存器将AUTOFF=1和WAIT=1，可以让ADC在转换完成后自动关闭，再次触发时会自动开启，可以有效降低功耗。我将这两位功能使能后，发现每次想开启采样，若采用LL库函数LL_ADC_Enable（）将ADEN位置1后，是无法等到ADRDY位被置1的，也就是ADRDY始终是0，但是如果不给ADEN置1，直接用LL_ADC_REG_StartConversion（）函数给ADSTART位置1，让ADC开始转换，也是可以正常开始的，读到的ADC结果也正常。想问一下这是不是就是AUTOFF和WAIT产生的效果，那么在使用中，只要使能这两位，每次开启ADC采样的时候，直接使能开始ADSTART=1就可以了，不用再让ADEN=1，这样对吗？ 2.结合第1个问题，我使用的cubeMX的LL库生成的ADC初始化函数，其中将AUTOFF=1,WAIT=1，上电后，运行完该初始化函数后，使用了校准功能，调用了LL_ADC_StartCalibration(ADC1)进行校准，调试发现，执行完该校准，再延时几个时钟周期后，ADC好像就已经可以正常工作，也是没有ADEN=1的情况下，直接让ADSTART=1，ADC就可以采集到正确数据了。我看到手册中有这样一个描述：启动校准（将ADCAL置1）时，或者使能ADC时（将ADEN置1），ADVREGEN位通过硬件被置1。也就是说执行了校准操作后ADC的调压器被使能了，且又被配置成了AUTOFF=1和WAIT=1的模式，那么在调压器使能的状态下，只要执行ADSTART=1就可以正常开始转换了。再结合其他讨论中有人说到如果要在系统进入低功耗模式前将ADC的调压器失能ADVREGEN=0才可以，据此推断，如果系统唤醒后想让ADC恢复正常工作，必须再执行一次校准操作或者执行一次ADEN=1的操作才可以。我在调试中在进入芯片的STOP模式前执行了CLEAR_BIT(ADC1->CR, ADC_CR_ADVREGEN)禁止调压器，在退出STOP模式后，再执行了一次LL_ADC_StartCalibration(ADC1)的校准操作，ADC都可以恢复正常采集数据。请教一下我的上述操作是否正确可靠？ 3.虽然手册中介绍说AUTOFF和WAIT使能后ADC可以在采集后自动关闭，但我想尽快降低功耗，所以每次读取到序列最后一个数据后，都再执行一次ADSTP=1和ADDIS=1的操作。我的设计采用的是定时器中断里进行一次ADC采样的方式，每次中断里采样完毕还必执行一次LL_ADC_REG_StopConversion(ADC1)让ADSTP=1使ADC停止，然后再必执行一次LL_ADC_Disable(ADC1)让ADDIS=1使ADC关闭，而下次中断进入时，也是不执行ADEN=1，直接让ADSTART=1，等待ADC获得正确的采样值。。当前调试使用这种方式都是可以获得正确的采样数据的。但拿不准是否会有隐患。请问我这样使用是否规范可靠？
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