打印

Aigtek高压放大器基于干涉仪的设计与优化中的应用

[复制链接]
633|0
手机看帖
扫描二维码
随时随地手机跟帖
跳转到指定楼层
楼主
实验名称:高压放大器基于扫描式固体腔F-P干涉仪的设计与优化中的应用

实验目的:优化设计扫描式固体腔F-P干涉仪

实验设备:光源,准直扩束系统,待测电光晶体(包含驱动),4f系统和CCD,信号源,ATA-2161高压放大器,示波器。

实验内容:为实现全天时边界层内大气温度绝对探测,即精细获取大气Rayleigh散射谱形,借鉴F-P干涉滤波技术和晶体的电光特性,设计了一种扫描式固体腔F-P干涉仪,测试其滤波性能并进行优化。

实验过程:如图是搭建的透射型马赫曾德干涉仪光路,此光路用做全息图的记录,主要包括以下几个部分:光源,准直扩束系统,待测电光晶体(包含驱动)、4f系统和CCD。

测量晶体内部均匀性和折射率调制度关系的系统图


电光晶体高压驱动,函数发生器,使其产生一个脉冲方波信号,然后经过ATA-2161高压放大器使其放大,最终把放大后的信号加载到晶体上,完成晶体电光性能的测试。

电光晶体高压模块标定

实验结果:

(1)不同电压下CCD上记录的全息图

(2)不同电压场下,对应晶体折射率的改变量

对图相位图中晶体相位的改变量进行平均处理,得到不同电压场下,对应的晶体的相位改变量,再由公式计算得出,不同电压场下,对应晶体折射率的改变量。

相位调制和折射率调制度实测值与理论值的对比


本文实验素材由西安安泰电子整理发布,如想了解更多实验方案,请持续关注安泰官网www.aigtek.com。Aigtek是国内专业从事测量仪器研发、生产和销售的高科技企业,一直专注于高压放大器、线束测试仪、计量校准源等测试仪器产品的研发与制造。

使用特权

评论回复

相关帖子

发新帖 我要提问
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

41

主题

42

帖子

0

粉丝