(1) Si522A/Si523/Si512不需要使用软复位来清除timer中断,改为自动清除(Si522使用软复位来清楚timer中断）
(2) Si522A/Si523/Si512的ACD唤醒距寫在相同硬件环境下,相比Si522检測距离提升1-2cm.
(3) Si522A/Si523/Si512新增了前N次检卡不产生中断功能,可以有效避免外界环境导致的误触发现象.
(4) Si522A/Si523/Si512新增连唤醒失败监测功能,可以有效避免因为晶振无法正常起振导致芯片不能正常工作的现象。
(5)Si522A/Si523/Si512新增了检卡时RF值过低监测功能,可以在进入ACD模式后检测读卡是否过低，避免因此而导致的无法正常检卡和读卡问题。
(6) Si522A/Si523/Si512新增了检测外部RF场功能,可以在进入ACD模式后检测外部的RF,用于确认有无外部RF靠近
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