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凯智通 QFN32-0.4(4*4)下压弹片老化座

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凯智通 QFN32-0.4(4*4)下压弹片老化座,产品简介
A、产品用途:编程座、测试座,对QFN32的IC芯片进行老化、测试
B、适用封装:QFN32引脚间距0.4mm
C、测试座:QFN32-0.4
D、特点:采用U型顶针,接触更稳定,寿命长,机械寿命:10W次
E、工作温度:-55℃~155℃    电流:1A max
F、我司可提供规格书(布板图),PDF档\CAD
规格尺寸
A、型号:QFN-32-0.4
B、引脚间距(mm):0.4
C、脚位:32
D、芯片尺寸:4*4mm      对应国外型号790-62032-101T

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