存储芯片如何验证好坏

发表于 2022-5-24 23:00

通常只是写一个数据，然后读出来与写入相同，测认为测试通过。

但实际中发现，未验证的区域，有坏块风险

如何验证存储芯片的好坏呢？
或者程序上是否有智能跳过坏块的办法？

发表于 2022-6-4 09:26

这个是不是有工具呀

发表于 2022-6-4 09:40

有专用的验证存储区好坏的软件吧

发表于 2022-6-4 09:52

如果用c语言就不太好实现啊

发表于 2022-6-4 10:05

如何验证所有区域呢

发表于 2022-6-4 10:35

在这方面是否有成熟的工具了呢

发表于 2022-6-4 10:49

这样做的效率会不会很低

发表于 2022-6-7 15:49

应该有专门的检测工具，不然这些芯片还能随便出厂

发表于 2022-6-7 21:22

wiba 发表于 2022-6-4 10:49
这样做的效率会不会很低

平时其实问题，就是遇到了问题
质量要分析原因，干过的是研发~~

发表于 2022-6-8 07:45

什么存储芯片？NAND FLASH？

[技术问答] 存储芯片如何验证好坏