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[技术问答]

存储芯片如何验证好坏

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楼主
skyred|  楼主 | 2022-5-24 23:00 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式


通常只是写一个数据，然后读出来与写入相同，测认为测试通过。

但实际中发现，未验证的区域，有坏块风险

如何验证存储芯片的好坏呢？
或者程序上是否有智能跳过坏块的办法？

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沙发
tpgf| | 2022-6-4 09:26 | 只看该作者
这个 是不是有工具呀

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板凳
drer| | 2022-6-4 09:40 | 只看该作者
有专用的验证存储区好坏的软件吧

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地板
qcliu| | 2022-6-4 09:52 | 只看该作者
如果用c语言就不太好实现啊

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5楼
coshi| | 2022-6-4 10:05 | 只看该作者
如何验证所有区域呢

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6楼
kxsi| | 2022-6-4 10:35 | 只看该作者
在这方面是否有成熟的工具了呢

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7楼
wiba| | 2022-6-4 10:49 | 只看该作者
这样做的效率会不会很低

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8楼
七毛钱| | 2022-6-7 15:49 | 只看该作者
应该有专门的检测工具，不然这些芯片还能随便出厂

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9楼
skyred|  楼主 | 2022-6-7 21:22 | 只看该作者
wiba 发表于 2022-6-4 10:49
这样做的效率会不会很低

平时其实问题，就是遇到了问题
质量要分析原因，干过的是研发~~

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10楼
daichaodai| | 2022-6-8 07:45 | 只看该作者
什么存储芯片？NAND FLASH？

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