[技术问答] 存储芯片如何验证好坏

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skyred|  楼主 | 2022-5-24 23:00 | 显示全部楼层 |阅读模式


通常只是写一个数据,然后读出来与写入相同,测认为测试通过。

但实际中发现,未验证的区域,有坏块风险

如何验证存储芯片的好坏呢?
或者程序上是否有智能跳过坏块的办法?

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tpgf| | 2022-6-4 09:26 | 显示全部楼层
这个 是不是有工具呀

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drer| | 2022-6-4 09:40 | 显示全部楼层
有专用的验证存储区好坏的软件吧

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qcliu| | 2022-6-4 09:52 | 显示全部楼层
如果用c语言就不太好实现啊

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coshi| | 2022-6-4 10:05 | 显示全部楼层
如何验证所有区域呢

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kxsi| | 2022-6-4 10:35 | 显示全部楼层
在这方面是否有成熟的工具了呢

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wiba| | 2022-6-4 10:49 | 显示全部楼层
这样做的效率会不会很低

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七毛钱| | 2022-6-7 15:49 | 显示全部楼层
应该有专门的检测工具,不然这些芯片还能随便出厂

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skyred|  楼主 | 2022-6-7 21:22 | 显示全部楼层
wiba 发表于 2022-6-4 10:49
这样做的效率会不会很低

平时其实问题,就是遇到了问题
质量要分析原因,干过的是研发~~

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daichaodai| | 2022-6-8 07:45 | 显示全部楼层
什么存储芯片?NAND FLASH?

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