静电放电瞬间会产生电磁辐射效应，尽管时间非常短暂ns级别，但能量极高KV级别，如果旁边有正在使用的电子设备或线缆电磁干扰会经线路传播，从而影响到其它电子设备，导致异常工作。
所以，ESD测试成为检测产品稳定性和抗干扰性的重要指标。
常见的测试手法有 a. 接触式±8KV放电 b.非接触式±15KV放电两种。每家公司标准不一样，有些要求四轴飞行器，有些要求无误动作，或者是允许产品不稳定但干扰去除后产品性能可以恢复等等, 关于ESD防护方面 要从软硬件两个方面去考虑：
软件层面:
1>安全时钟CSS开启，防止意外发生的时候整个系统崩溃.
2>增加硬件看门狗复位.
3>flash 操作过程需要预防干扰，增加保险，类似增加屏蔽中断，或者把flash操作时间拉长至更充足的范围,来防止异常导致flash出错.
4>静电最大影响的是电压，MCU必须增加电压欠压防护，欠压复位等等.
5>晶振起振时间拉长至更充足的范围,来防止异常导致MCU无法抓取晶振源.
硬件层面：
1>硬件画板需要把MCU防护得更好
a>每个IC尽可能占用一个电源分支（不要交错盘结在一起，防止电流乱窜）.
b>电源滤波，滤波电容尽可能靠近MCU电源管脚.
c>如果条件允许，画四层板吧，电源VDD和GND各占一层；如果没法做到四层板，那就尽可能地让复位管脚走线最短，滤波也很重要，同时避免复位线干扰的走线处于平行，最好垂直.
2>串联电阻（电阻经验值选用几十——几百欧姆左右的）,电阻具有对高频信号的阻力作用，但需要实际测试.
3>最后一个大招：接口增加ESD器件.
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